sem为什么越扫描越亮
BSE 来自于样品的较深层区域，而 SE 则产生于样品的表面区域。因此，BSE 和 SE 代表不同的信息。BSE 图像对原子序数差异非常敏感：材料的原子序数越大，对应在图像中就越亮。SE 图像可以提供更丰富的表面信息——如图3 所示。
【扫描信息测试信息】扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
SEM扫描电镜图参数代表的意思【点击了解产品详情】放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
sem下p管和n管亮暗程度
1较低。sem下p管和n管的电阻都是比较高的，所以亮暗程度会比较低，亮度的不同主要来自于两类衬度。扫描电子显微镜（sem）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。
2好的场效应管在量测的时候只应有一次有读数，而且数值在300--800左右，如果在最终测量结果中测的只有一次有读数，并且为0时须万用表短接场效应管的引脚，重新测量一次，若又测得一组为300--800左右读数时此管也为好管。
3P沟道MOS管的开关特性： 当栅源电压GS为-1V（S=8V， G=8V），相比于S=8V， G=8V的不导通状态，它需要一个负电压差（-0.4V）来导通。控制栅极GPIO的电压要求在4V以上以确保关断，而在8V以下则能实现导通，但精确度受限。
4若两次测出的电阻值均很大，说明是PN结的反向，即都是反向电阻，可以判定是N沟道场效应管，且黑表笔接的是栅极；若两次测出的电阻值均很小，说明是正向PN结，即是正向电阻，判定为P沟道场效应管，黑表笔接的也是栅极。若不出现上述情况，可以调换黑红表笔按上述方法进行测试，直到判别出栅极为止。
扫描电子显微镜
拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数【点击了解产品详情】扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
扫描电子显微镜（SEM）以其独特的成像原理和广泛的适用性，在材料科学生物学和纳米技术等领域发挥着重要作用。以下是SEM的主要特点： SEM主要用于揭示样品的表面形态，无需担心样品的厚度限制。它能够展示样品表面的三维结构，而这点是投射电子显微镜（TEM）所无法提供的。
扫描电镜测定元素含量用的是能谱仪EDS，能谱仪的原理简单地说，电子束将样品表层原子的内层电子撞走，外层电子回落并以X射线形式释放特征能量信号，探测器接收信号测出元素含量，氢氦没有内层电子所以不能测定。【点击了解产品详情】扫描电镜一般指扫描电子显微镜。
只知道标尺无法知道放大倍数。拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。例如尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm10um就是1000倍。扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。
什么是扫描电子显微镜 扫描电子显微镜又叫SEM，首次出现是1965年，原理是发射高能电子束去扫描待测的样品，与样品中的物质产生作用之后，会出现各种物理的信息，然后对这些信息进行收集并且放大后分析，来观测物品的微观特征和外貌。
电子显微镜（electron microscope），简称电镜，是使用电子来展示物件的内部或表面的显微镜。 高速的电子的波长比可见光的波长短（波粒二象性），而显微镜的分辨率受其使用的波长的限制，因此电子显微镜的分辨率（约0.1纳米）远高于光学显微镜的分辨率（约200纳米）。
SEM及XRD分析简介
1简单的讲，SEM是用来观察材料表面形貌的，XRD是用来检测材料晶体结构的，使用完全不同的仪器。具体说明如下：SEM 是scanning electron microscope的缩写，指扫描电子显微镜是一种常用的材料分析手段。 扫描电子显微镜于20世纪60年代问世，用来观察标本的表面结构。
2xrd是利用x射线衍射表征晶体材料物相，或对其求结晶度半定量的常用方法。sem是利用二次电子背散射像来表征材料微观下的形貌。
3XRD可以做定性，定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量，可以测定晶格参数，可以测定结构方向含量，可以测定材料的内应力，材料晶体的大小等等。一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量。样品制备：通常定量分析的样品细度应在1微米左右，即应过320目筛。
