怎么计算晶胞参数
1晶胞参数的计算公式：c=MNa×N。晶胞的概念 晶胞是晶体的基本结构单位，客观地反映了晶体结构三维周期性的晶格，将晶体结构截分为一个个彼此互相并置而等同的平行六面体的基本单位，即为晶胞。
2高中晶胞参数计算公式是：c=MNa*N。高中晶胞参数的概念：轴长和轴角统称为晶胞参数。
3计算原子距离：根据晶体结构的晶胞参数，可以计算出晶胞上每个原子之间的距离。晶体学中常用的晶胞参数包括晶格常数晶胞角度等。最近且等距离的原子：确定最近邻原子：根据晶胞上的原子距离计算，可以找到每个原子的最近邻原子，即与该原子距离最近的其他原子。
4具有体心立方晶格的金属有钾（K）钼（Mo）钨（W）钒（V）α-铁（α-Fe，912℃）等。
晶面上的原子个数计算
乘八分之一，棱上的乘四分之一，面上的乘二分之一，内部的乘一，再加起来，就是一个晶胞含有的原子数。几个常见晶胞类型的原子数：简单立方堆积（1个），体心立方堆积（2个），面心立方堆积（4个）。
四个角 4 个原子，但每个角上的原子只有 14 在立方晶胞的底面上， 以一个面计算，共有 4*14 = 1 个原子对角线上（面心的“心”） 1 个原子，一个晶胞的底面上共有2个原子，面密度 2S = 2a^2。
密排六方晶格的晶胞是一个六方柱体，柱体的十二个顶点和上下面中心各排列着一个原子，六方柱体的中间还有三个原子。
根据晶格结构和晶格常数计算出每个晶胞的体积，根据晶格结构得到每个晶胞中的原子个数，最后以体积中的原子个数=1每个晶胞体积×每晶胞的原子数。相关信息：空间点阵可任意选择3个不相平行的单位矢量进行划分。由于选择单位矢量不同，划分的方式也不同，可以有无数种形式。
对于一个密排六方晶胞来说，其原子数可以通过以下方式计算：确定晶胞的边长a和c（其中a和c是相互垂直的），以及原子间距b（即相邻两层原子的距离）。
晶胞顶点还有原子，但每个顶点不属于一个晶胞，是八个晶胞共用的顶点。对于每个晶胞来说，只分摊到1*18=1个。体心+顶点共两个原子。面心晶格的晶胞共有四个原子，顶点一个（8*18=1），面心有三个（每个面心原子属于两个晶胞，每个晶胞分摊到6*12=3个），共四个。
拍SEM照片,材料喷过金的表面如何去除
1如果方便的情况下，可以先将粘在3M双面胶表面的东西拿掉，如果不方便，也就没有关系了，可以直接滴上华润多功能去胶剂。记得可以在四周都滴上，这样可以更快速的从边上浸入。10秒后，使用刮板从边上开始铲双面胶。因为时间没有过多久，可能没有充分与胶发生反应，此时可以用力一些。
2金属表面油污清洗有以下方法：除油浸泡清洗法 有机溶剂浸泡；化学介质浸泡 。方法的特点 速度快，能快速溶解两类油脂，不腐蚀工件，除油不彻底，溶剂有毒易燃，成本高；使用的酸碱类化学介质成本低，设备简单，但浸泡时间较长，效率低。
3为了消除放电现象，我们通常的解决问题的方法是降低扫描电镜样品室的真空度，这样可以将样品表面的引入正电荷的分子，它可以与放电电子相互中和，从而消除放电现象，但是此种方法并不是获取高分辨率的图像的有限办法。
4一般的清理或涂装前处理，可选用100目的石英砂或200目的刚玉砂。尺寸变大是因为经喷砂处理后的材料表面糙化，形成微观上的密密麻麻的峰谷状，将峰值研平后，初尺寸基本无变化。如果在铝制等软质材料表面喷砂，是会去除些许材料的。但如果对厚实的铸铝表面喷砂，可以过得附着力极良好的氧化膜。
5一）碱液脱脂法 这种方法主要借助于碱的化学作用（皂化作用）来清除金属表面的油脂和轻微锈蚀，使被涂表面净化，这种方法常用于清除钢铁镍铜等黑色金属以及不溶于碱液的有色金属。
6常温保存：通常用于化学性质比较稳定的标准品，保存于干燥阴凉的地方。4度冷藏：用于常温下不是很稳定的物质，保存于冰箱冷藏室。-20度冷冻：用于化学性质不稳定，常温下容易分解的物质。-80度保存：一些具有生物活性的物质，需要保存于特定的-80度的冰箱。
SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少
SEMTEMXRDAESSTMAFM的区别主要是名称不同工作原理不同作用不同名称不同 SEM，英文全称：Scanning electron microscope，中文称：扫描电子显微镜。
深入解析SEM与TEM：微观世界里的精密探针 SEM，全称为扫描电镜，宛如显微镜的高端升级版，它以较低电压进行扫描，专注于表面细节的观察，犹如一位细腻的艺术家，捕捉样品的微观面貌。TEM，即透射电镜，如同X光透视，揭示内部的秘密。
sem和tem的区别如下：结构差异 二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜（TEM）的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上。
由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲，形成类似于可见光通过玻璃时的折射现象，所以我们就可以利用这一物理效应制造出电子束的“透镜”，从而开发出电子显微镜。
测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。
怎样才能拍出好看的氧化石墨烯的SEM照片
要看你氧化石墨烯的质量怎么样，要是插层不够充分，石墨烯层数较多，怎么拍效果都不好，跟石墨一样。氧化石墨烯导电性一般较差，扫描之前可以镀金处理。选点很重要，选一些片状石墨烯边缘位置，可以看清层状结构，又能看到薄膜片状结构。
采用硫酸和高锰酸钾，通过化学插层氧化-破碎方法制备了氧化石墨烯（GO），通过扫描电镜（SEM）激光粒度分析红外光谱（FT-IR）紫外-可见光谱（UV-vis）和原子力显微镜（AFM）等测试手段对所制备的氧化石墨烯进行了分析和表征。
为了在SEM图像中更好地识别氧化石墨烯，可以尝试以下方法：使用透射电子显微镜（TEM）或原子力显微镜（AFM）等其他显微技术，这些技术能提供更高的分辨率，更适合观察单层或少层材料。优化样品制备过程，确保GO的良好分散和暴露。
当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘盐类和石墨烯分子。当然光学显微镜扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图像，可以看到氧化石墨烯还原后的缺陷。
