纳米颗粒粒径大小.粒径分布以比表面积的测试方法有哪些
微粒分散系中常用的粒径表示方法有几何学粒径比表面粒径有效粒径等。这些微粒大小的测定方法有光学显微镜法电子显微镜法激光散射法库尔特计数法Stokes沉降法吸附法等。测定纳米级粒子大小的常用方法有电子显微镜法和激光散射法。
测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。
电子显微镜法是对纳米材料尺寸形貌表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法最大交叉长度平均值法粒径分布图法等。
透射电镜法：透射电镜是一种直观可靠的绝对尺度测定方法，对于纳米颗粒，它可以观察其大小形状，还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度，显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计，分门别类给出粒度分布。如果将颗粒进行包埋镶嵌和切片减薄制样，还可以对颗粒内部的微观结构作进一步地分析。
纳米颗粒粒径大小,粒径分布及表面测试的方法有哪些各种方法的特点是是...
1电子显微镜法是对纳米材料尺寸形貌表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法最大交叉长度平均值法粒径分布图法等。
2XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。激光粒度分析法：测量精度高，测量速度快，重复性好，可测粒径范围广以及可进行非接触测量等。
3测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。
怎样预处理用SEM看粒子大小
关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，上海献峰网络指出：药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时，药物与辅料的堆密度粒度及粒度分布等物理性质要相近，以利于混合均匀，尤其是规格较小需测定含量均匀度的药物，必须慎重选择各种辅料。
图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
纳米材料粒度测试方法大全
1电子显微镜法是对纳米材料尺寸形貌表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法最大交叉长度平均值法粒径分布图法等。
2筛分法，显微镜法。筛分法：筛分法是一种最传统的粒度测试方法，也是过去最常用的方法，它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。显微镜法：测量与实际颗粒投进面积相同的球形颗粒的直径即等效投影面积直径，包括显微镜CCD摄像头（或数码像机）图形采集卡计算机等部分组成。
3测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。
