TEM和SEM有什么区别
tem和sem区别如下：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。观察得到的图像不同。
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
sem和tem在工作原理和应用范围上各有哪些不同回答如下：结构差异 二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜（TEM）的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上。
正因如此，根据不同需求，可制造出功能配置不同的扫描电子显微镜。透射电镜TEM （transmission electron microscope）（1）透射电镜工作原理：是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像， 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。（2）透射电镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～几十万倍。
最主要的区别是：SEM是通过反射的方式采集信号 TEM是通过透射的方式采集信号 样品属性大概必须都是固体，干燥无油尽量导电。TEM获得材料某个剖面的组织形态，sem获得的是材料表面或者是断面的组织形态。
TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜，场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用 xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。
纳米颗粒粒径大小,粒径分布及表面测试的方法有哪些各种方法的特点是是...
电子显微镜法是对纳米材料尺寸形貌表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法最大交叉长度平均值法粒径分布图法等。
XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。激光粒度分析法：测量精度高，测量速度快，重复性好，可测粒径范围广以及可进行非接触测量等。
测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。适合纳米材料的粒度大小和形貌分析。
粒度的表示方法多种多样，包括直观的表格法图形展示（如直方图和曲线）以及数学函数（如Rosin-Rammler分布）。其中，等效粒径如体积径沉速径等，是对非球形颗粒大小的量化，而D50（中位径）D97（粗端粒度）和比表面积则揭示了粒度分布的平均值颗粒粗细以及表面特性。
粒度分布particle sine distribution 颗粒群的颗粒数质量体积或其相应的百分数，按粒度大小的分布称为该颗粒群的粒度分布。常用的有：筛分法，沉降法，超声波法，透气法，激光法，电镜法，图像发，电阻法，动态光散射法。目前最常用粒度测试为激光法，具有速度快，准确度高等特点。
筛分 原理：以来筛孔大小的机械分离作用。优点：简单直观。动态范围较小，常用于大于40mm的颗粒测定。缺点：速度慢，一次只能测量一个筛余值，不足以反映粒度分布；微小筛孔制作困 难；误差大，通常达到10%20%；小颗粒由于团聚作用通过筛孔困难；有人为误 差，导致可信度下降。
怎样预处理用SEM看粒子大小
关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，上海献峰网络指出：药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时，药物与辅料的堆密度粒度及粒度分布等物理性质要相近，以利于混合均匀，尤其是规格较小需测定含量均匀度的药物，必须慎重选择各种辅料。
图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
另外。因为返工须将片剂重新粉碎关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，观察片剂的外观及测定片重差异。 3，且中试应采用与以后大生产相同类型的设备，用粉末直接压片工艺压制的不合格片剂不宜返工，再加入不溶性润滑剂，必须进行中试，应按标准操作程序及时取样，以确保产品质量。
一般应该是对比AgTiO2和TiO2之间的SEM，具体分析的内容应该包括：Ag粒子在TiO2表面的分布是否均匀；AgTiO2和TiO2单一样品（如球或是花）的尺寸变化（均匀，变大，变小）AgTiO2和TiO2整体样品的均匀性和分散性；Ag纳米粒子的颗粒大小。
大家帮忙分析一下微晶玻璃的SEM
微晶玻璃的SEM，一般要看析晶区域和晶粒的形状大小及分布区域性等微观形貌特征，对于感兴趣的晶粒，可以采用EDS点扫描来分析其元素组成，确切的相组成还要结合XRD分析或者TEM的选区电子衍射分析。
这样说吧，普通玻璃内部的原子排列是没有规则的，这也是普通玻璃易碎的原因之一。而微晶玻璃像陶瓷一样，它的原子排列是有规律的，所以，微晶玻璃比陶瓷的亮度高，比玻璃韧性强。
EDAX有两个意思，一指X射线能量色散分析法，也称EDS法或EDX法，少用ED表示；二是指最早生产波谱仪的公司---美国EDAX公司。当然生产能谱仪的不只EDAX公司，还有英国的Oxford等。
TEM是透射电镜，主要是观察材料内层结构，而SEM是场发射扫描电镜，用于材料表层形貌观察。两种不同的表征方法测出的图形自然不同，一般电池正极材料两种图形都可以用。
