SEM和TEM的图不一致,应该是哪个为准呢
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
tem和sem区别如下：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。观察得到的图像不同。
TEM是透射电镜，主要是观察材料内层结构，而SEM是场发射扫描电镜，用于材料表层形貌观察。两种不同的表征方法测出的图形自然不同，一般电池正极材料两种图形都可以用。
sem和tem的区别如下：结构差异 二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜（TEM）的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上。
性质不同 SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。
扫描电镜看起来很有立体感，这是扫描电镜的一个优势。如图：http：a0.att.hudong.com75470130000020631812163447594284jpg 而投射电镜则是没有立体感的。如图：http： 这是区别二者照片的最显著的区别。
TEM和SEM的工作原理差别
sem和tem在工作原理和应用范围上各有哪些不同回答如下：结构差异 二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜（TEM）的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上。
扫描电子显微镜工作原理：是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。
透射电镜和扫描电镜的区别透射电镜和扫描电镜的区别：结构不同工作原理不同对样品的要求不同操作不同放大倍数不同用途不同等。透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。
SEMTEMXRDAESSTMAFM的区别主要是名称不同工作原理不同作用不同名称不同 SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。TEM，英文全称：TransmissionElectronMicroscope，中文称：透射电子显微镜。XRD，英文全称：Diffractionofx－rays，中文称：X射线衍射。
tem和sem区别如下：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。观察得到的图像不同。
如何表征材料的微区结构
原子力显微镜（AFM）：AFM是一种表面分析技术，它可以通过检测样品表面微区的力场变化来获取表面的形貌和结构信息，在研究疏水缔合聚合物聚集体的过程中，AFM可以用来检测聚合物链的排列和分布，从而分析疏水微区的结构和性质。
材料结构表征的基本方法有X射线衍射法热分析法电子显微分析法等，表征是一个心理学术语，具体指的是客观实体在人的一个认知环境中的描述或再现。常用材料表征手段： 微观形貌：形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌，材料的颗粒度，及颗粒度的分布以及形貌微区的成分和物相结构等方面。
这些材料可以包括为特定目的设计制造的金属或陶瓷材料天然提取物化学反应生成物或经过表面处理或者磨削得到的材料。这些材料机械性能和化学物理特性往往与其微观形貌和结构密切相关。应用电镜研究其表面结构形状三维尺寸和分散状态以及测量某些数据具有重要意义川。
表面形貌形态结构化学结构。表面形貌，碳纤维的表面形貌对碳纤维及其复合材料的性能有重要的影响。对碳纤维表面形貌进行研究的测试手段主要有扫描电子显微镜原子力显微镜及扫描隧道显微镜。
材料结构表征是指通过一系列的实验和技术手段对材料的微观结构物理性质和化学性质等进行分析和研究，以期对材料的性能进行评价和优化。常见的材料结构表征方法包括以下几种：X射线衍射（XRD）：通过测量材料对X射线的散射和衍射，确定晶体结构和晶格参数，对材料的晶体结构和结晶性进行表征。
SEM与TEM是什么
最主要的区别是：SEM是通过反射的方式采集信号 TEM是通过透射的方式采集信号 样品属性大概必须都是固体，干燥无油尽量导电。TEM获得材料某个剖面的组织形态，sem获得的是材料表面或者是断面的组织形态。
SEMTEMXRDAESSTMAFM的区别主要是名称不同工作原理不同作用不同名称不同 SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。TEM，英文全称：TransmissionElectronMicroscope，中文称：透射电子显微镜。XRD，英文全称：Diffractionofx－rays，中文称：X射线衍射。
SEM使用的电子束从样品表面反射回来，然后被一个探测器捕捉并转化为图像。这使得SEM非常适合观察各种材料的表面形貌和结构，例如纳米材料生物组织和矿物质等。SEM的分辨率通常在几纳米到数十纳米之间，这意味着它可以观察到比光学显微镜更小的特征。
SEM是扫描电镜，所加电压比较低，只是扫描用的，相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜，所加电压高，可以打透样品，观察内部结构STEM是扫描透射，是扫描电镜里面的一个功能，可以说是山寨版的TEMSTM是扫描隧道显微镜，具体功能不太清楚了。
深入解析SEM与TEM：微观世界里的精密探针 SEM，全称为扫描电镜，宛如显微镜的高端升级版，它以较低电压进行扫描，专注于表面细节的观察，犹如一位细腻的艺术家，捕捉样品的微观面貌。TEM，即透射电镜，如同X光透视，揭示内部的秘密。
哪位大侠可以解释一下,为什么SEM和TEM的图不一致呢
性质不同 SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。
透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。观察得到的图像不同。
TEM是透射电镜，主要是观察材料内层结构，而SEM是场发射扫描电镜，用于材料表层形貌观察。两种不同的表征方法测出的图形自然不同，一般电池正极材料两种图形都可以用。
SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切磨抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察，看到的只有表面加工损伤，一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀，才能产生有利于观察的衬度。
TEM的分辨率比SEM要高一些。SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为2040μm或者更少的薄区要求）。TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。
