如何正确评估纳米颗粒材料的粒径
1一种是统计学方法，通过统计TEM或SEM视野内颗粒的粒径得到一个统计值；另外一种方法是计算法，利用XRD表征数据可以计算出来粒径的平均大小。
2XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。激光粒度分析法：测量精度高，测量速度快，重复性好，可测粒径范围广以及可进行非接触测量等。
3电子显微镜法是对纳米材料尺寸形貌表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法最大交叉长度平均值法粒径分布图法等。
4测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。
求纳米颗粒粒径分布分析方法(详细)
XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。激光粒度分析法：测量精度高，测量速度快，重复性好，可测粒径范围广以及可进行非接触测量等。
电子显微镜法是对纳米材料尺寸形貌表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法最大交叉长度平均值法粒径分布图法等。
一般只需15min。测量准确，重现性好。可以获得粒度分布。激光相干光谱粒度分析法 通过光子相关光谱（PCS）法，可以测量粒子的迁移速率。而液体中的纳米颗粒以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径，温度和粘度等因素。
sem右下角的标尺怎么看
步骤如下：确定标尺的单位是像素还是微米。找到标尺的起始刻度，这个起始刻度表示1单位的大小，读取刻度值。使用标尺来计算像素或微米与实际尺寸之间的关系。
用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
是bar（标尺）的意思。表示那么长是等于50微米。因为不同放大倍数的显微镜拍出来的图不一样，但有了标尺你就可以知道尺度信息。【点击了解产品详情】扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
AFM图中的颜色代表不同的高度，颜色越亮，代表这个位置的高度越高；颜色越暗，代表高度越低。你给的文件中，上面那幅图中一堆亮的点是由于高度过大或者扫描参数没有调到最佳值，成像有点失真。对于高度的测量应该还有一个Z方向的标尺，通过AFM的相关软件可以直接分析。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
氢氧化钴粒径用什么测定,怎么测定
通过本次任务的学习，掌握用发射光谱法测定钴系列产品中微量元素含量的方法，能够根据测定结果报出样品的分析结果。
钴标准溶液：称取0.5000g 金属钴（995%），溶于10mL 硝酸（1 +1）中，加10mL硫酸（1+1），加热至冒三氧化硫浓烟，取下，冷却，用水吹洗表面皿和杯壁，加30mL水，煮沸，冷却后移入1 L容量瓶中，用水定容。此溶液含钴0.5mgmL。吸取50mL上述溶液于500mL容量瓶中，用水定容。此溶液含钴50 ugmL。
钴和镍的测定范围为w（Co，Ni）=0.1%～5%。仪器 原子吸收光谱仪。试剂 盐酸。硝酸。氢氟酸。高氯酸。过氧化氢。
钴矿石的分解方法 钴矿试样一般可用盐酸和硝酸分解，必要时可用焦硫酸钾和碳酸钠熔融。如试样为硅酸盐时，可加氟化物或氢氟酸助溶。不被氢氟酸分解的含钴矿石，可以用过氧化钠或氢氧化钠-硝酸钾熔融。 砷钴矿试样需要用硝酸和硫酸加热到冒烟使其分解。
氢氧化钴纳米片稳定。目前对金属氧化物电极赝电容电极材料的研究，主要集中在一些过渡金属氧化物和过渡金属氢氧化物，其中氢氧化钴独特的片状结构和良好的氧化还原反应活性，使其成为合适的电极材料。
按试验方法测定3．00／lg·I 钴，以下离子不干扰测定，500倍的Fe抖Cu抖Zn抖，700倍的K+Na+Ca。+Mg +，50倍的Mn。+Cd。+Pb。+Ni抖。
