陶瓷块状SEM试样怎样制备
表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。
先用2000目或更小的砂纸将表面打磨平整，不能有明显的缺陷。如果你对表面要求很高，再做下表面抛光就可以了。不知道做SEM想得到什么结果，是看粒子的烧结情况，还是看里面有没有你想要的特定结构。我们做一般用上面大小的砂纸将表面打磨就行了。
分析材料断口：SEM景深大，图像富立体感，具有三维形态，能够从断口形貌呈现材料断裂的本质及断裂机理，适合在材料断裂原因事故原因工艺合理性等方面进行分析。
SEM基本上是可以对所以类型的试样进行图像处理，粉末，半导体，高分子材料，陶瓷，金属，地质材料，生物样品等。然而有些特殊的样品通过SEM收集高质量的照片，是需要操作者使用额外的样品制备的方法，这个额外的样品制备方法，通常是在试样的表面溅射一层导电薄膜材料，通常在5-20nm左右。
如何制备用于扫描电镜的水泥样品
1一般来讲，看扫描电镜之前，你要清楚自己想要看什么，看到什么样的图片是你比较满意的。
2对于块状导电材料，除了大小要适合仪器样品座尺寸外，基本上不需要进行什么制备，用导电胶把试样粘结在样品座上，即可放在扫描电镜中观察。对于块状的非导电或导电性较差的材料，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜，以避免在电子束照射下产生电荷积累，影响图像质量，并可防止试样的热损伤。
3如果A样品和B样品是两个单独的实验，不用做横向对比，那么用不同的制样方法没有什么问题。如果两个样品在合成制备过程中用了不用的方法或者条件，要用SEM做横向比对，制备的结果。那么，最好用同样的制样方法。
扫描电镜怎么做氧化石墨烯气凝胶的断面图
具体步骤如下：准备样品：将涂层材料嵌入透明树脂中，然后对其进行切割。制备样品：将切割好的样品进行打磨，得到一个平整的样品表面。导电：将样品表面涂上导电粉末，利用金属导线将样品与导电粉末连接起来。扫描电镜拍照：使用扫描电镜来拍摄样品表面的图像，然后进行分析和处理。
要看你氧化石墨烯的质量怎么样，要是插层不够充分，石墨烯层数较多，怎么拍效果都不好，跟石墨一样。氧化石墨烯导电性一般较差，扫描之前可以镀金处理。选点很重要，选一些片状石墨烯边缘位置，可以看清层状结构，又能看到薄膜片状结构。
当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘盐类和石墨烯分子。当然光学显微镜扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图像，可以看到氧化石墨烯还原后的缺陷。
