你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下...
电子显微镜法是对纳米材料尺寸形貌表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法最大交叉长度平均值法粒径分布图法等。
纳米材料：当物质到纳米尺度以后，大约是在0.1—100纳米这个范围空间，物质的性能就会发生突变，出现特殊性能。 这种既具不同于原来组成的原子分子，也不同于宏观的物质的特殊性能构成的材料，即为纳米材料。 如果仅仅是尺度达到纳米，而没有特殊性能的材料，也不能叫纳米材料。
除了以上五个相对前沿的方法之外，合成氧化锌纳米材料的方法还包括真空蒸汽冷凝法球磨法热爆法微乳液法脉冲激光沉积法（PLD ）喷雾热解法模板法等，这几种方法均可以得到纯度高，粒径和形貌可控的氧化锌纳米材料，但是制备工艺复杂，抑或是设备比较昂贵。
由氯金酸通过还原法可以方便地制备各种不同粒径的纳米金，其颜色依直径大小而呈红色至紫色。以纳米金为免疫标记物的检测技术的发展作为现代四大标记技术之一的纳米金标记技术（nanogold labelling techique），实质上是蛋白质等高分子被吸附到纳米金颗粒表面的包被过程。
从具体的物质说来，人们往往用细如发丝来形容纤细的东西，其实人的头发一般直径为20-50微米，并不细。单个细菌用肉眼看不出来，用显微镜测出直径为5微米，也不算细。极而言之，1纳米大体上相当于4个原子的直径。
如何正确评估纳米颗粒材料的粒径
一种是统计学方法，通过统计TEM或SEM视野内颗粒的粒径得到一个统计值；另外一种方法是计算法，利用XRD表征数据可以计算出来粒径的平均大小。
XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。激光粒度分析法：测量精度高，测量速度快，重复性好，可测粒径范围广以及可进行非接触测量等。
电子显微镜法是对纳米材料尺寸形貌表面结构和微区化学成分研究最常用的方法， 一般包括扫描电子显微镜法（SEM） 和透射电子显微镜法（TEM）。对于很小的颗粒粒径， 特别是仅由几个原子组成的团簇，采用扫描隧道电镜进行测量。计算电镜所测量的粒度主要采用交叉法最大交叉长度平均值法粒径分布图法等。
测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。
纳米粒子的粒径范围是1100纳米直径之间。纳米粒子通常被定义为的颗粒物质是1个在100之间的纳米（nm）的直径。该术语有时用于较大的颗粒，xxx500 nm，或仅在两个方向上小于100 nm的纤维和管子。在最低范围，通常将小于1 nm的金属粒子称为原子簇。
怎样预处理用SEM看粒子大小
1关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，上海献峰网络指出：药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时，药物与辅料的堆密度粒度及粒度分布等物理性质要相近，以利于混合均匀，尤其是规格较小需测定含量均匀度的药物，必须慎重选择各种辅料。
2图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
3放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
4另外。因为返工须将片剂重新粉碎关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，观察片剂的外观及测定片重差异。 3，且中试应采用与以后大生产相同类型的设备，用粉末直接压片工艺压制的不合格片剂不宜返工，再加入不溶性润滑剂，必须进行中试，应按标准操作程序及时取样，以确保产品质量。
【知识】扫描电镜(SEM)知识大全
扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。电子光学部分只有起聚焦作用的汇聚透镜，它们的作用是用信号收受处理显示系统来完成的。
扫描电镜（SEM）基本原理 扫描电镜是利用电子枪发射电子束，高能入射电子轰击样品表面时，被激发的区域将产生二次电子背散射电子吸收电子俄歇电子阴极荧光和特征X射线等信号，通过对这些信号的接受放大和显示成像，可观察到样品表面的特征，从而分析样品表面的形貌结构成分等。
扫描电镜（SEM）是一种强大的显微观察技术，它通过发射高能电子束并与样品表面相互作用来获取图像。以下是对“扫描电镜（SEM）知识大全”的文本内容进行修改和润色后的结果：0 什么是扫描电镜（SEM）扫描电镜，或称扫描电子显微镜，自1965年左右问世以来，已广泛应用于多个学科领域。
电子光学系统：微观世界的造像大师SEM的电子光学系统负责产生极其细窄的电子束，通过精确扫描样品表面，捕捉每一个微小细节。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
SEMSEM是scanning electron microscope的缩写，中文即扫描电子显微镜，扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相时间太长，所以实用价值不大。
