氟元素sem拍不出
我想O F Si的含量是微量的吧 我现在想用电子探针测 您看 能行吗 电子探针和EDS差不太多 都是半定量的 实在需要这个数据 还是做个元素分析吧xiaxue_326（站内联系TA）用FTIR，红外测试试试吧，也是表征成分的。
SEM所用的是能谱仪，精度不高，只能分析表面几十nm的深度范围，你用SEM做能谱时Ca，O元素都明显打出来了吗，另外你的材料里本身有没有S元素，含量如何，如果含量较少也可能打的不清晰。
可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45，60度倾斜的样品台。
扫描电镜检测是材料微观形貌观察必不可少的研究手段，但水凝胶材料由于含有大量水分或有机溶剂，无法直接放入电镜中观察。电镜工作需要维持高真空环境，而水分在真空中会迅速挥发，导致图像异常甚至电镜故障。因此，对于水凝胶样品，通常需要进行冷冻干燥处理，将水分去除后再进行拍摄。
请教各位怎样拍出大角度的SEM图
1制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金；环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下；设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内；拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰。
2要看你氧化石墨烯的质量怎么样，要是插层不够充分，石墨烯层数较多，怎么拍效果都不好，跟石墨一样。氧化石墨烯导电性一般较差，扫描之前可以镀金处理。选点很重要，选一些片状石墨烯边缘位置，可以看清层状结构，又能看到薄膜片状结构。
3观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。 分析材料断口：SEM景深大，图像富立体感，具有三维形态，能够从断口形貌呈现材料断裂的本质及断裂机理，适合在材料断裂原因事故原因工艺合理性等方面进行分析。
4图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
5放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
6同样的样品，不同的实验室做出来效果差别很大。 有对样品进行这样处理的，用乙醇或丙酮稀释，超声分散后，取液滴滴在铜板上，干燥后喷金，做样。
SEM图片如何分析
分析SEM扫描电镜图片主要涉及到图像处理和图像分析两个步骤，通过专业的软件工具和特定的分析方法，可以对图片的形貌成分晶体结构等方面进行深入解读。 图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
sem扫描电镜图片分析微相分离的方法如下。使用SEM扫描电镜进行扫描，获取影像对所获得影像进行处理，根据微相特征和形态信息进行分析。利用图像处理软件对图像进行处理，提取具有代表性的信息。通过图像分析软件进行图像分析，得出相应的结果。根据分析结果，得出微相分离的结论。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。
观察不同类型的材料做对比的话，尽量选取相同放大倍数的照片进行对比。这样的话更有说服力，SEM最大的作用就是观察材料的微观结构和形貌，如果准备写文章的话，文章中将你的SEM照片视野范围内的现象描述清楚即可。
有两种方法可以知道：1。 拍扫描电镜照片或透射电镜照片，用上边的比例尺来计算。然后通过Photoshop软件 进行二值化处理，通过分析会得到很好的结果。 用实验仪器 分析粒度的仪器多的很，我们通常用激光粒度仪。
怎样分析扫描SEM图片呢
分析SEM扫描电镜图片主要涉及到图像处理和图像分析两个步骤，通过专业的软件工具和特定的分析方法，可以对图片的形貌成分晶体结构等方面进行深入解读。 图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。
对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。例如，噪声去除可以通过滤波器实现，以减少图像中的随机噪声，使图像更加平滑；对比度增强可以突出图像中的特定特征，使其更易于观察和分析。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
这样子写的文章肯定也不咋的了。liuruiphd（站内联系TA）可以结合能谱分析相关元素的含量njucaijun（站内联系TA）最直观的是形貌和大小，还有粒子间或所关心的体系间的关系，比如分散状况，结合状况等。结合能谱可以知道元素信息，做面扫可以知道元素的分布图，结合扫描照片能得到一些有意思的结论。
观察不同类型的材料做对比的话，尽量选取相同放大倍数的照片进行对比。这样的话更有说服力，SEM最大的作用就是观察材料的微观结构和形貌，如果准备写文章的话，文章中将你的SEM照片视野范围内的现象描述清楚即可。
完全弄懂扫描电子显微分析(SEM)
1放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
2SEM的精密构造与运作扫描电子显微镜由电源真空系统电子光学系统和信号收集显示系统构成，每一部分都不可或缺。为何真空至关重要电子束在大气中会快速氧化，因此SEM操作时必须在真空环境中，以保护电子枪。同时，真空环境还能延长电子的自由行程，提升成像效果。
3扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
4什么是扫描电镜（SEM）扫描电镜，或称扫描电子显微镜，自1965年左右问世以来，已广泛应用于多个学科领域。它通过二次电子背散射电子及特征X射线等信号，提供对样品表面形态和特征的观察与分析。作为一种介于透射电镜和光学显微镜之间的技术，SEM允许我们观察到微观世界的表面细节。
