电子扫描电子显微镜SEM是什么意思
扫描电子显微镜，简称扫描电镜，英文名为Scanning Electron Microscope，缩写为SEM，是利用高能量的电子束在固体样品表面扫描，激发出二次电子背散射电子X射线等物理信号，从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子光学仪器。
电子显微镜（electron microscope），简称电镜，是使用电子来展示物件的内部或表面的显微镜。 高速的电子的波长比可见光的波长短（波粒二象性），而显微镜的分辨率受其使用的波长的限制，因此电子显微镜的分辨率（约0.1纳米）远高于光学显微镜的分辨率（约200纳米）。
SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。
是bar（标尺）的意思。表示那么长是等于50微米。因为不同放大倍数的显微镜拍出来的图不一样，但有了标尺你就可以知道尺度信息。【点击了解产品详情】扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
SEM scanning electron microscope.扫描电子显微镜.当然还有其它的解释。工作原理：从电子枪阴极发出的直径20（m～30（m的电子束，受到阴阳极之间加速电压的作用，射向镜筒，经过聚光镜及物镜的会聚作用，缩小成直径约几毫微米的电子探针。
SEM，英文全称：Scanning electron microscope，中文称：扫描电子显微镜。
如何分析SEM图像
Sem图像是指搜索引擎营销（Search Engine Marketing）中的一种产品广告形式，全称为搜索引擎营销广告（Search engine marketing advertising）。
打开SEM图像。在图像的右下角，会看到一个水平线，这是标尺的一部分。观察该水平线上刻度的数字，这些数字表示图像中每一点的尺寸，例如，如果刻度显示“100”，则表示该点在图像中的尺寸为100像素或100微米。
比重分析法 指相同事物进行归纳分成若干项目，计算各组成部分在总数中所占的比重，分析部分与总数比例关系的一种方法。在SEM中的应用 有利于帮助SEMer快速掌握企业的核心推广业务主要推广渠道主要推广地域等主要贡献者。
图像清晰度和尺寸测量等。图像清晰度，CDS-EM图形的清晰度直接影响到测量结果的准确性，在观察图形时，需要选择清晰度较高的区域进行测量。尺寸测量，CDS-EM图形可以用于测量线宽线距等关键尺寸，在进行尺寸测量时，要选择合适的测量工具，并根据实际情况进行校准。
对于陶瓷材料，肯定是多晶，直接掰开就能用SEM看晶界和晶粒大小。对于金属材料，通过腐蚀也可以观察到晶界。对于薄膜材料，腐蚀后也可以观察晶界。对于金属样品，有一种方法叫：电子背散射衍射。这种方法需要将样品抛光的非常平整，然后可以观察样品表面的结晶方向，不过这种方法分辨率较低。
关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。
如何利用SEM扫描电镜法分析玻纤增强尼龙这种复合材料的玻璃纤维增强效果...
1直接用SEM观察样品沿纤维方向的拉伸断裂横截断面。【点击了解产品详情】在这种的电子显微镜中，电子束以光栅模式逐行扫描样品。电子由腔室顶端的电子源（俗称灯丝）产生。电子束发射是因为热能克服了材料的功函数。他们随后被加速并被带正电的阳极所吸引。整个电子腔需要处于真空环境中。
2图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
3常用的方法有：超薄切片法冷冻超薄切片法冷冻蚀刻法冷冻断裂法等。对于液体样品，通常是挂预处理过的铜网上进行观察。扫描电镜的特点：有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；试样制备简单。
4.制作高分子薄膜（polymer film）电镜样品一般都是在玻璃或者ITO衬底上甩膜后，泡在水中，然后将膜揭下来。不过对于厚度小于100nm的薄膜，是很难用这种方法揭下来的。
怎么用扫描电镜照涂层材料的断面图
直接用SEM观察样品沿纤维方向的拉伸断裂横截断面。【点击了解产品详情】在这种的电子显微镜中，电子束以光栅模式逐行扫描样品。电子由腔室顶端的电子源（俗称灯丝）产生。电子束发射是因为热能克服了材料的功函数。他们随后被加速并被带正电的阳极所吸引。整个电子腔需要处于真空环境中。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
在大量高密度短而弯曲的撕裂棱线条点状裂纹源由准解理断面中部向四周放射的河流花样准解理小断面与解理面不存在确定的对应关系二次裂纹等。有问题的话可以关注下蔡司显微镜。
试样（表面）导电的固体，试样可以是块状或粉未状。不导电的试样，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜。对于块状导电材料，除了大小要适合仪器样品座尺寸外，基本上不需要进行什么制备，用导电胶把试样粘结在样品座上，即可放在扫描电镜中观察。
扫描电镜原理：所谓扫描是指在图象上从左到右从上到下依次对图象象元扫掠的工作过程。在电子扫描中，把电子束从左到右方向的扫描运动叫做行扫描或称作水平扫描，把电子束从上到下方向的扫描运动叫做帧扫描或称作垂直扫描。
如何用扫描电镜判断腐蚀程度
1金相是需要经过磨平，腐蚀来制备的。腐蚀的作用是将晶界上的物质腐蚀掉，这样境界处就出现凹下去的，和其他晶体表面（平的）就不一样了。电镜观察物体的表面形貌，也就是表面是什么样的。把制作好的金相放入电镜下就可以看到放大的样品表面，同时通过腐蚀后的样品就可以明显看到晶体的样子。
2可以通过以下方法：观察灯丝表面是否有明显磨损或氧化腐蚀现象，如果有，则说明灯丝已经老化，需要更换。测量灯丝电阻值，正常情况下，灯丝电阻值应该在几欧姆左右，如果电阻值过高或过低，则说明灯丝已经老化或出现故障，需要更换。
3常用的腐蚀剂有氢氟酸或者10%体积浓度的盐酸溶液，具体要取决于样品成分，在面临新的样品时，可以做一组不同腐蚀时间的，找到最佳腐蚀条件的进行拍摄即可。【点击了解产品详情】光源不同：金相显微镜采用可见光作为光源，扫描电镜采用电子束作为光源成像。
