求助!!!太阳能纳米薄膜的表征测试
1SEM可以看断面。300纳米够厚了。把你的样品弄断，然后放在斜面的载物台上，扫描电镜那里都可以做。SEM里带能谱的话可以测到表面的化学元素。SEM你做表面形貌是神马也看不出来的。
2主要包括纳米粒子的XRD表征纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析纳米粒子的扫描透射电子显微术纳米团簇的扫描探针显微术纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。纳米技术的广义范围可包括纳米材料技术及纳米加工技术纳米测量技术纳米应用技术等方面。
3滴在玻璃片上，用旋涂机旋涂均匀（可以旋涂多次，增加厚度），干燥后即可测试。
4透射电镜法：透射电镜是一种直观可靠的绝对尺度测定方法，对于纳米颗粒，它可以观察其大小形状，还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度，显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计，分门别类给出粒度分布。如果将颗粒进行包埋镶嵌和切片减薄制样，还可以对颗粒内部的微观结构作进一步地分析。
5微米级纳米级的薄膜，可以用薄膜厚度测量仪AF-3000系列测量；AF系列精度达0.1nm，可测10层膜的膜厚，还支持客制化，可离线在线Mapping等多场景应用。AF系列采用的是分光干涉原理，从测量原理来看，只能测透光或半透光的薄膜，理论上来说金属和类金属化合物这类不透光材质的薄膜，是无法检测的。
6透光率需要带玻璃一起测么---不需要带玻璃测量---是指膜的透光率 剥离强度需要用专用玻璃么---根据实验要求，必须是测量单位指定的玻璃，湿热测试都用什么指标表征--- 湿热试验的目的是确认模块或组件承受湿气长期渗透下的作用。
大家用什么方法测膜层的厚度硬度结合力摩擦系数
磷化膜厚或膜重：膜厚度测量采用GB6462金属的氧化覆盖层横断面厚度显微镜测量法》，也可采用测厚仪，按照GB4956磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法》或GB4957《非磁性金属基体上非导电覆盖层测量涡流方法》。
磁控溅射膜有很多种，除了一般都要检查附着力以外，按应用领域不同，检查项目也不同。比如，装饰镀膜，可能要检查颜色的l，a，b值，耐盐雾性，耐人工汗，耐纸带磨擦性等等；工具镀膜，一般要检查厚度附着力评级。润滑膜可能还要检查摩擦系数；光学镀膜则要测量分光曲线，盐雾测试，高温高湿等等。
测厚仪好的是德国菲希尔的，手持的只能测镀锌层厚度，不能测铬。涂镀层测厚仪 PD-CT2 PLUS（增强型）PD-CT2 PLUS是一款增强型覆层测厚仪，能够直接显示覆层的厚度和重量，尤其适用于钢板及钢带表面镀锌层重量的测量。
SEM测试机构哪里有
1欧波同材料分析研究中心可提供SEM表面分析服务。【扫描信息测试信息】SEM是一种用于高分辨率微区形貌分析的大型精密仪器，SEM测试就是用扫描电镜进行检测的一种测试方法。SEM扫描电镜就是用细聚焦的电子束扫描（轰击）样品，电子与样品相互作用，激发各种物理信息。
2扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电子显微镜类型多样，不同类型的扫描电子显微镜存在性能上的差异。根据电子枪种类可分为三种：场发射电子枪钨丝枪和六硼化镧。有需要的话，可以咨询欧波同材料分析研究中心。
3北京化工大学分析测试中心 北京化工大学分析测试中心成立于1986年，2006年6月通过了国家计量认证，并先后两次通过计量认证复查评审。北京化工大学分析测试中心是一个具备向校内及社会提供公证可靠和权威测试数据能力的分析测试机构。
4国家有色金属金属及电子材料分析测试中心，他们有三台扫描电镜，其中一台是场发射的。
如何检测薄膜样品中是否掺杂有金属氧化物
火焰试验：将待测样品放入火焰中加热，观察是否有特殊的气味产生。例如，一些金属氧化物在火焰中加热时会产生特殊的金属味。盖板试验：将待测样品放入一个密闭的容器中，加热一段时间后打开盖板，闻其气味。一些含氧化物的化合物在加热后会产生刺激性气味。
最常用的是ho滴定来测分散度。在塑料行业采用的是过滤压力和薄膜检测法，在化纤和造纸水性体系中采用制浆沉淀法。电子显微镜测定粒径直观，较准确，统计比较繁杂。
那就表明PLD之后，金属氧化物为非晶态。一种可能是衬底温度偏低，还用一种可能是金属氧化物中氧含量偏少（氧挥发）。纯属个人看法。
玻璃，陶瓷，金属等也是可以做元素分析的。我接触过的有ICP-MS，样品需要进行消解再进样分析，可以定性和定量分析，通量较高，一天可以分析几十个样品。但仪器较贵，普及性不高。思考后我想，玻璃应该还可以做原子吸收光谱，不过可能专属性不是很高，干扰较多。
sem看二氧化硅薄膜看不到怎么办
1要是放大倍数要求不大的话，建议采用环境扫描电镜，那个在20000倍以下，成像效果挺好的。
2您要问的是为什么肉眼能看到sem看不到样品表面不平整，SEM操作参数不正确。样品表面不平整。SEM需要样品表面平整且干净才能生成清晰的图像，因此如果样品表面不平整或者有脏物，会影响到SEM的成像效果。SEM操作参数不正确。
3针对怎么用SEM看薄膜截断面来献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。
4不同很正常，因为可能你的样品不是均一的，导致差异。这个SEM测试的是particle不是grain size！谢乐公式可以用，因为不超过几百纳米。
