sem如何调清晰
制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金；环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下；设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内；拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰。
用PS将SEM图调清晰的方法如下：用PS打开SEM图，再新建一个空白文件，将SEM图复制粘贴至新建的文件中。使用PS中的“裁剪”工具，将需要的部分裁剪下来，按“Enter”键完成裁剪操作。将步骤2中“图层”复制粘贴至新建的文件中，进行“描边操作”。
关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。
扫描电镜的xy调整方法如下：点击下拉菜单的消像散图标，拖动鼠标左键分别上下或左右移动，使模糊边尽量减小，再调焦，清晰度有所改善，该过程反复进行，直到图像清晰。在光阑板面点击消像散（stigmation），分别拖动xy坐标线的两个方向滑尺，减小模糊量。
大家陶瓷样品拍sem用什么腐蚀方式
1我们用的腐蚀方法有两个，一个是热腐蚀，一个是化学腐蚀，所用的腐蚀液就是酸类，硫酸硝酸等，差别就在腐蚀时间上，这个是经验的积累，没有确定的时间规定。腐蚀时间越长，腐蚀程度越大。希望对你有用。
2抛光后的SiC样品，置于沸腾的Murakami溶液中进行腐蚀。
3氧化锆陶瓷低温时效之后拍sem需要热处理。氧化锆陶瓷的化学热处理削弱了氧化锆陶瓷的负面应力，让其内在结构变得更加的稳定可靠。氧化锆陶瓷作为一种重要的新型材料，被应用到生产之前也要经过一系列的处理过程，这个过程叫做化学热处理。
4低分辨率下，要不要喷金根据材料电导率决定，一般分辨率会比较清晰高分辨率下（0.5微米往下），导电不好的材料表面会模糊不清。喷金之后，表面导电性改善，分辨率能达到几十纳米左右。所以金属样品不用喷金，而陶瓷纳米颗粒样品最好在表面镀层铂金。
搞定SEMTEM样品制备方法,拍出高级电镜图!
1制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金；环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下；设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内；拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰。
2建议由老师制备或在老师指导下制备。）4．等15 min以上，以便乙醇尽量挥发完毕；否则将样品装上样品台插入电镜，将影响电镜的真空。块状样品制备 1．电解减薄方法 用于金属和合金试样的制备。
3在大视场低放大倍数下观察样品，用扫描电镜观察试样的视场大：大视场低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的，如刑事侦察和考古。
4透射电镜TEM （transmission electron microscope）（1）透射电镜工作原理：是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像， 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。（2）透射电镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～几十万倍。
5投射电子显微镜的观察样品的主要制备方法有：投影法在真空条件下，用电子散射能力强的重金属原子来喷镀样品表面，这样在样品和没有喷镀的区域形成了较强的反差，而没有喷镀的部分成了样品的投影，根据投影我们可以了解样品的立体形状高度，通常用这种方法来观察细菌的鞭毛或病毒的颗粒。
sem测试主要测什么
sem测试主要测形貌能谱镀金。形貌：仪器放大倍数范围是100倍-20W倍，常规样品可以拍摄到8-10W倍，导电性不好或磁性样品大于8W倍可能会不清晰。
SEM描电镜主要应用于微观形貌颗粒尺寸微区组成元素分布元素价态和化学键晶体结构相组成结构缺陷晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用，可利用EDS进行元素成分定性定量分析。
sem扫描电镜是测用来测样品表面材料的物质性能进行微观成像。sem扫描电镜介绍：扫描电子显微镜是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段，在光电技术中起到重要作用。
SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成 FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等 Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。
扫描电镜（SEM）基本原理 扫描电镜是利用电子枪发射电子束，高能入射电子轰击样品表面时，被激发的区域将产生二次电子背散射电子吸收电子俄歇电子阴极荧光和特征X射线等信号，通过对这些信号的接受放大和显示成像，可观察到样品表面的特征，从而分析样品表面的形貌结构成分等。
Sem检测是一种技术手段，全称为搜索引擎营销（Search Engine Marketing）检测。它主要用于对某个品牌或公司在搜索引擎上的广告投放效果进行分析和评估。Sem检测通常通过对多个有意义的指标进行监测，来衡量SEM活动的即时效果和长期ROI贡献。
用SEM拍界面变黑,找时模糊,拍完照片也模糊,该如何破
环境光线不充足，拍照或录像时光线不足可能导致成像效果模糊，建议拍照或录像时开启闪光灯或使用夜景模式。
照片拍出来很模糊，是你选择的拍照场所或者地点不合适，比如说，在正在行驶的车上拍出来的照片可能就会因为抖动而模糊。
当被摄体的反差很弱时，自动对焦也会出现“拉风箱”的情况，解决办法就是尽量避免对焦在其身上和用手动对焦。有的时候虽然合焦了，但照片还是模糊的。
在电脑端安装嗨格式图片无损放大器的软件，安装完之后，双击软件图标并运行嗨格式图片无损放大器，根据自己的需要在软件展现界面，选择自己需要的功能。
或者是相机本身质量问题，镜头镜片存在一定的移位，导致成像不清晰。有时候拍摄的物体正在移动，快门的速度跟不上物体移动的速度。在拍摄过程中，要调节对焦模式，可以使用频率极高的单次自动对焦模式，试一试取景状况会不会有所改善。
注意如何握住相机 照片模糊的最常见原因是相机抖动。当然，最明智的解决方案是采用三脚架，但有时根本不可能做到这一点。为了稳定图像，请双手握住相机并倾斜在某个表面上，以创建一种“人脚架”方式拍摄。设置基本ISO 设置较低的ISO。ISO越低，图片中的噪点就越少。
怎样才能拍出好看的氧化石墨烯的SEM照片
1要看你氧化石墨烯的质量怎么样，要是插层不够充分，石墨烯层数较多，怎么拍效果都不好，跟石墨一样。氧化石墨烯导电性一般较差，扫描之前可以镀金处理。选点很重要，选一些片状石墨烯边缘位置，可以看清层状结构，又能看到薄膜片状结构。
2采用硫酸和高锰酸钾，通过化学插层氧化-破碎方法制备了氧化石墨烯（GO），通过扫描电镜（SEM）激光粒度分析红外光谱（FT-IR）紫外-可见光谱（UV-vis）和原子力显微镜（AFM）等测试手段对所制备的氧化石墨烯进行了分析和表征。
3为了在SEM图像中更好地识别氧化石墨烯，可以尝试以下方法：使用透射电子显微镜（TEM）或原子力显微镜（AFM）等其他显微技术，这些技术能提供更高的分辨率，更适合观察单层或少层材料。优化样品制备过程，确保GO的良好分散和暴露。
4当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘盐类和石墨烯分子。当然光学显微镜扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图像，可以看到氧化石墨烯还原后的缺陷。
