你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下...
1SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。
2纳米材料：当物质到纳米尺度以后，大约是在0.1—100纳米这个范围空间，物质的性能就会发生突变，出现特殊性能。 这种既具不同于原来组成的原子分子，也不同于宏观的物质的特殊性能构成的材料，即为纳米材料。
3均相溶胶颗粒免疫测定法（sol particle immunoassay， SPIA）是利用免疫学反应时金颗粒凝聚导致颜色减退的原理，将纳米金与抗体结合，建立微量凝集试验检测相应的抗原，如间接血凝一样，用肉眼可直接观察到凝集颗粒。
通过SEM电镜照片怎样确定晶粒平均尺寸
图片里有标尺的，和那个比比不就知道了，放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。
举例来说，如果我们有一张SEM扫描电镜图片，我们需要对其进行预处理，如去噪声增强对比度等。然后，我们可以利用图像分析软件，测量图片中的颗粒大小，计算其分布情况等。
用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
在进行漂移校正时，使用该标尺可能会更加准确。利用扫描电镜成像软件大多数SEM数据采集软件中都设有一些功能可以处理没有标尺的情况。这些功能使用户可以添加标尺，或者使用已知的样品进行比较和校准。
要分析纳米尺寸金属试样的晶粒形貌应该用什么电镜用金相显微镜可以吗...
1电镜里面出现两种形貌解释：金相显微镜及扫描电镜均只能观察物质表面的微观形貌，它无法获得物质内部的信息。而透射电镜由于入射电子透射试样后，将与试样内部原子发生相互作用。
2扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
3其意义是：通过移动透镜系统可以对一个半透明的物体进行三维扫描。
4电子显微镜主要用于纳米级的样品表面形貌观测，因为扫描电镜是依靠物理信号的强度来区分组织信息的，因此扫描电镜的图像都是黑白的，对于彩色图像的识别扫描电镜显得无能为力。
5金相显微镜是通过表面反射光线来观察试样表面的。【点击了解产品详情】抛光后的试样表面是平整的，光线在试样表面反射后是完整的一片，观察不到晶体的晶界。
怎样预处理用SEM看粒子大小
1另外。因为返工须将片剂重新粉碎关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，观察片剂的外观及测定片重差异。
2放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
3粒径分为晶体粒径，和颗粒粒径，如果楼主确定是要颗粒粒径的话，还可以通过SEM，或FE-SEM来看。然后通过相关软件数据统计。
对比不同温度下样品晶粒尺寸
1在钎焊温度为700℃750℃和800℃下晶粒尺寸有明显不同，700℃晶粒大小约为20μm，760℃晶粒大小约为50um，800℃晶粒大小超过150um。
2低温玻璃粉烧结的温度对晶粒大小的影响很大。根据查询相关公开资料得知，研究了玻璃粉的熔融，力学性能，介电性能及其含量对MLCC瓷料烧结的影响，结果表明低温玻璃粉烧结的温度高对晶粒大小就越大。
3金属型浇注晶粒小于砂型浇注，因为金属型的散热速度快。浇注温度高晶粒大于浇注温度低，因为散热慢。薄壁件晶粒小于厚壁件，因为散热速度快。厚大件的表面晶粒比心部小，因为散热速度快。
【知识】扫描电镜(SEM)知识大全
扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
电子光学系统：微观世界的造像大师SEM的电子光学系统负责产生极其细窄的电子束，通过精确扫描样品表面，捕捉每一个微小细节。
