SEM工作原理与使用方法
扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
扫描电子显微镜的工作原理基于电子成像，与光学显微镜的光线成像原理截然不同。不同于透射电子显微镜（TEMs）通过穿透极薄样本，SEM是通过扫描电子束在样品表面反射或碰撞，产生出超高的分辨率图像。
SEM的分辨率，即分辨试样细节的能力，通常以能清晰区分二次电子像上的最小距离衡量。虽然理论上的分辨能力高达3-6纳米，但在实际工作中，要达到6纳米分辨率已属不易，需要考虑各种观察条件和图像质量因素。
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扫描电镜标尺怎么看
1打开SEM图像。在图像的右下角，会看到一个水平线，这是标尺的一部分。观察该水平线上刻度的数字，这些数字表示图像中每一点的尺寸，例如，如果刻度显示“100”，则表示该点在图像中的尺寸为100像素或100微米。
2用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。
3拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数【点击了解产品详情】扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。
4拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。例如尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm10um就是1000倍。
5拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数【点击了解产品详情】例如：尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm10um就是1000倍。
6例如：尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm10um就是1000倍。扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。
SEM扫描电镜图怎么看,图上各参数都代表什么意思
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
扫描电镜图片如何分析
1图像叠加：将测量结果叠加到原始图像上，以更直观地展示分析结果。进一步分析：根据具体研究目标，可能需要进行更复杂的分析，如形状分析聚类分析或机器学习方法，以识别和分类不同的形貌特征。
2EDS点分析，通过选择感兴趣的点进行定性定量分析，可精确测定晶界析出相等微结构成分。例如，在钴镍合金的背散射电子照片中，通过五个不同点的X射线能谱图，我们可以清晰地了解各相成分的分布。
3放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
4第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
5扫描电镜主要是二次电子像，主要反映试样表面的形貌特征。像的衬度是形貌衬度，衬度形成主要决定于试样表面相对于入射电子束的倾角。试样表面凸出处，二次电子发射电流比平坦处和凹陷处大。
6分析啥这是一张背散射的图像，即成分像，看样子像金属或者陶瓷的脆性断裂，有河流花样，比较典型的穿晶断裂。
金相用sem怎么看
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
一般用Keller试剂腐蚀，更常用的是阳极覆膜。个人感觉用电解抛光制样，比较容易腐蚀出晶界。铝合金要看晶粒度一般需要电解抛光和阳极制膜，然后偏振光显微镜下观察。或用SEM的EBSD进行观察。
将样品抛光的非常平整。观察样品表面的结晶方向。通过结晶方向判断抛光界面。
