如何对岩石表面进行扫描电镜测试
1工程技术层面来分析鉴定，由于一般岩石矿物成分复杂，多种伴生矿，不同种类矿石比例含量不同，如果需要对矿物加工，就需要定量研究，必须使用电子探针。
2【点击了解产品详情】高岭石。高岭石是砂岩中常见的粘土矿物。它一般以很细小的集合体出现，在扫描电镜下容易分辨它的形态。伊利石。
3根据二次电子的大小和散射方向能够构建出高分辨率和高对比度的三维图像。扫描电镜是一种高精度高分辨电子显微镜，通过对材料表面的扫描和探测进行成像，可以获取到极高分辨率的图像。
4以成分测试为主的样品须表面平整镜面抛光，以确保分析测试结果准确；对于形貌观察则只需取新鲜断面。
5常用的仪器有透射电镜（TEM）扫描电镜（SEM）电子探针（EPMA）等。
6扫描电子显微镜的特点介绍 仪器分辨率较高，通过二次电子像能够观察试样表面6nm左右的细节，采用LaB6电子枪，可以进一步提高到3nm。仪器放大倍数变化范围大，且能连续可调。
请问大家,SEM样品都是如何进行前处理的
用扫描电镜对样品或试件进行观察时样品处理如下：样品要尽可能干燥，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去；若样品中含有水份，水分挥发会造成仓内真空度急剧下降，导致图像漂移，有白色条纹，甚至会影响灯丝寿命。
取样，戊二醛等固定液固定，酒精梯度脱水，冷冻干燥or二氧化碳临界点干燥，喷金或蒸碳。以上四个步骤，根据所使用的SEM成像的真空模式，可以有所省略。
导电胶粘到SEM试样铜台上，硅片粘到导电胶上。样品用乙醇分散一下，滴到硅片上，待乙醇挥发后就可以拿去测了。
抛光硅片可以最SEM基底吗
1由于抛光原始颗粒细微粒度尺寸小于可见光的波长，所以均匀地分布后形成外观透明或半透明的抛光膜。硅片抛光片用于哪里抛光片是用量最大的产品，其他的硅片产品都是在抛光片的基础上二次加工产生的。
2图3所示为涂层样品抛光前后对比图，从图中可以看到，抛光前，涂层边界处破损严重，涂层与基底处表层覆盖较厚损伤层，对其进行氩离子抛光后，完整的涂层区清晰可见，且对红框处放大可观察到涂层及基底区明显的晶粒分布。
3扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
在做SEM前要对式样表面做那些处理
测样品导电处理，可以避免被测样品表面形成电荷累积而影响图像效果。n对样品进行导电处理是要把多余的电荷导入大地，从而避免多余电荷的累积，对仪器造成损害。
样品要尽可能干燥，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去；若样品中含有水份，水分挥发会造成仓内真空度急剧下降，导致图像漂移，有白色条纹，甚至会影响灯丝寿命。
头面处理：在样品表面喷涂导电胶，以确保样品与SEM的电子束的良好接触。 放置：将样品放置在SEM样品台上，并通过调整样品台的倾斜角度和位置来获得最佳的观察效果。
对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状，在真空中能保持稳定，含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。
导电胶粘到SEM试样铜台上，硅片粘到导电胶上。样品用乙醇分散一下，滴到硅片上，待乙醇挥发后就可以拿去测了。
