纳米颗粒粒径大小,粒径分布及表面测试的方法有哪些各种方法的特点是是...
1动态光散射也称光子相关光谱，是通过测量样品散射光强度的起伏变化得出样品的平均粒径及粒径分布。液体中纳米粒子以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径温度和黏度系数等因素。
2XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
3测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。
4粒度的表示方法多种多样，包括直观的表格法图形展示（如直方图和曲线）以及数学函数（如Rosin-Rammler分布）。
5目前常用的有沉降法激光法筛分法图像法和电阻法五种，另外还有几种在特定行业和领域中常用的测试方法。 沉降法是根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同测量粒度分布的一种方法。
6透射电镜法：透射电镜是一种直观可靠的绝对尺度测定方法，对于纳米颗粒，它可以观察其大小形状，还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度，显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计，分门别类给出粒度分布。
如何正确评估纳米颗粒材料的粒径
X射线衍射信号：X射线衍射是一种常用的分析方法，可以用于确定材料的晶体结构和晶格常数。在纳米颗粒中，由于晶粒尺寸小，X射线衍射峰的宽度会变宽，因此可以通过分析X射线衍射峰的宽度来计算出原子序数衬度和形貌衬度。
高等无机化学测定纳米材料粒径大小的主要方法：XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。
一种是统计学方法，通过统计TEM或SEM视野内颗粒的粒径得到一个统计值；另外一种方法是计算法，利用XRD表征数据可以计算出来粒径的平均大小。
纳米粒子的粒径范围是1100纳米直径之间。纳米粒子通常被定义为的颗粒物质是1个在100之间的纳米（nm）的直径。该术语有时用于较大的颗粒，xxx500 nm，或仅在两个方向上小于100 nm的纤维和管子。
纳米产品粒度必须小于10^-9米（10亿分之一米），即10^-6毫米（100万分之一毫米）。相当于4倍原子大小，比单个细菌的长度还要小。
sem扫描电镜图片怎么分析
1对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
2灰度分析：将图像转换为灰度图像，并使用灰度直方图来了解亮度分布。纹理分析：应用纹理分析方法，如灰度共生矩阵或局部二值模式，来评估图像中的纹理均匀性。
3放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
