你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下...
SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。
纳米材料：当物质到纳米尺度以后，大约是在0.1—100纳米这个范围空间，物质的性能就会发生突变，出现特殊性能。 这种既具不同于原来组成的原子分子，也不同于宏观的物质的特殊性能构成的材料，即为纳米材料。
均相溶胶颗粒免疫测定法（sol particle immunoassay， SPIA）是利用免疫学反应时金颗粒凝聚导致颜色减退的原理，将纳米金与抗体结合，建立微量凝集试验检测相应的抗原，如间接血凝一样，用肉眼可直接观察到凝集颗粒。
图1 重质碳酸钙颗粒表面修饰前后的SEM 形貌 （a）原料重质碳酸钙颗粒；（b）（c）复合重质碳酸钙颗粒 由图1（b）（c）可见，包覆颗粒大小均匀，粒径80nm左右，包覆率高。
纳米材料粒度测试方法大全
筛分法：筛分法是一种最传统的粒度测试方法，也是过去最常用的方法，它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。
测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。
XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
扫描电镜下怎么计算平均粒径
在颗粒旁放一钢片尺作参照物就可确定扫描电镜图像中的颗粒粒径。取一滴放在20ml高级醇溶剂中，充分搅匀后取一小滴在负载6和6mm被刻蚀过的盖玻片的样品台座上，真空抽干后立即用离子溅射镀膜仪喷金后待用。
选取ABC三组纳米石墨烯粒子群进行拍摄，然后在每张照片中随机选取并测量50颗纳米较子粒径，由公式（见下）计算得出平均粒径。
可通过多种方法计算，主要有算术平均法几何平均法调和平均法体积平均法及质量平均法等。
扫描电镜图片如何分析
1图像叠加：将测量结果叠加到原始图像上，以更直观地展示分析结果。进一步分析：根据具体研究目标，可能需要进行更复杂的分析，如形状分析聚类分析或机器学习方法，以识别和分类不同的形貌特征。
2放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
3EDS点分析，通过选择感兴趣的点进行定性定量分析，可精确测定晶界析出相等微结构成分。例如，在钴镍合金的背散射电子照片中，通过五个不同点的X射线能谱图，我们可以清晰地了解各相成分的分布。
【知识】扫描电镜(SEM)知识大全
扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
电子光学系统：微观世界的造像大师SEM的电子光学系统负责产生极其细窄的电子束，通过精确扫描样品表面，捕捉每一个微小细节。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
深入解析SEM扫描电镜：实例探索与应用 SEM，全称扫描电子显微镜，是微观世界里的精密探索者。它以电子束作为光源，通过一系列复杂构成，揭示样品的微观形貌与成分秘密。
SEM的工作原理与使用方法SEM的工作原理扫描电镜（SEM）是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。
