纳米颗粒粒径大小,粒径分布及表面测试的方法有哪些各种方法的特点是是...
1动态光散射也称光子相关光谱，是通过测量样品散射光强度的起伏变化得出样品的平均粒径及粒径分布。液体中纳米粒子以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径温度和黏度系数等因素。
2XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
3测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。
4粒度的表示方法多种多样，包括直观的表格法图形展示（如直方图和曲线）以及数学函数（如Rosin-Rammler分布）。
靶材晶粒测试有多种,常用的基本方式是什么
1镀膜玻璃工业用靶材薄膜太阳能工业用靶材电阻靶材汽车车灯镀膜用靶材等。
2软件的实现 根据“成电之芯”输入激励和输出响应的数据对比要求，编写了可综合的verilog代码。代码的设计完全按照“成电之芯”的时序要求实现。
3金属合金靶材通常具有晶粒较大密度较高结构紧密等特点，适用于制备多种金属薄膜。陶瓷靶材则具有晶粒细小密度相对较低化学稳定性好等特点，适用于制备一些氧化物氮化物等复杂材料的薄膜。
4方法：（1）在液态金属结晶时，提高冷却速度，增大过冷度，来促进自发形核。晶核数量愈多，则晶粒愈细。
5衍射仪法是通过探测器对衍射线扫描进行测量的，其扫描方式分为连续扫描和步进扫描两种。 连续扫描是测角仪按照规定的速度扫描，并进行同步记录。
对比不同温度下样品晶粒尺寸
1在钎焊温度为700℃750℃和800℃下晶粒尺寸有明显不同，700℃晶粒大小约为20μm，760℃晶粒大小约为50um，800℃晶粒大小超过150um。
2低温玻璃粉烧结的温度对晶粒大小的影响很大。根据查询相关公开资料得知，研究了玻璃粉的熔融，力学性能，介电性能及其含量对MLCC瓷料烧结的影响，结果表明低温玻璃粉烧结的温度高对晶粒大小就越大。
3金属型浇注晶粒小于砂型浇注，因为金属型的散热速度快。浇注温度高晶粒大于浇注温度低，因为散热慢。薄壁件晶粒小于厚壁件，因为散热速度快。厚大件的表面晶粒比心部小，因为散热速度快。
【知识】扫描电镜(SEM)知识大全
1扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
2扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
3电子光学系统：微观世界的造像大师SEM的电子光学系统负责产生极其细窄的电子束，通过精确扫描样品表面，捕捉每一个微小细节。
4放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
5深入解析SEM扫描电镜：实例探索与应用 SEM，全称扫描电子显微镜，是微观世界里的精密探索者。它以电子束作为光源，通过一系列复杂构成，揭示样品的微观形貌与成分秘密。
