聚合物想测SEM,如何制作样品
1既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金引导电胶。
2你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计，利用背景的亮度差别，其实效果不一定很好的。
3如果能液氮脆断最好！冷冻切片机也行，这个机子太贵，一般SEM实验室不配，去搞生物材料的TEM实验室应该有。
请问在SEM分析的样品需要抛光得很光滑么
1不是。SEM对样品的要求。不会被电子束分解。在电子束扫描下热稳定性要好。能提供导电和导热通道。大小与厚度要适于样品台的安装。观察面应该清洁，无污染物。进行微区成分分析的表面应平整。
2如果你对表面要求很高，再做下表面抛光就可以了。不知道做SEM想得到什么结果，是看粒子的烧结情况，还是看里面有没有你想要的特定结构。我们做一般用上面大小的砂纸将表面打磨就行了。
3将样品抛光的非常平整。观察样品表面的结晶方向。通过结晶方向判断抛光界面。
4消除形貌你要看什么当需要精确研究材料中化学成分分布时，必须尽可能消除形貌影响，进行抛光。如需要研究材料晶体类型分布和取向分布时，需要更精细抛光，机械抛光后，还要消除机械应力，采用电解抛光或者离子抛光。
病理学检验技术
1病理检验指的是用以检查机体器官组织或细胞中的病理改变的病理形态学方法。
2塑料包埋切片常用包埋剂有甲基丙烯酸盐类（Glycol methacrylate， GMA）及环氧树脂类（Epon 812，618），其优点是可以同时作光镜和电镜检测，能相互对照所查抗原，定位准确。
3取得相应专业中专学历，担任技士职务满5年。（2）取得相应专业大专学历，从事本专业工作满3年。（3）取得相应专业本科以上学历，从事本专业工作满1年。
...除了中科院和清华大学等学校外,有其他地方做SEM表征么
在北京地区发生疫情的时候，清华大学就下达了一个全新的通知，就是进一步要加强校方的管控要求，学生们从2022年的5月14号开始，除了经过批准的防疫人员之外，其他人都是一律不可以外出的，外卖也是禁止入校。
燕南园，位于燕园的南部，占地48亩，东邻燕南美食；西至北大校医院；北邻第二体育馆及篮球场；南接学生宿舍及邮局银行。占地面积2万平方米。1952年随燕大并入北京大学。有燕园“园中之园”的誉称。
北大应该是第一，其他的几个学校武大复旦南大厦大都差不多，接下来湖大，然后南开的分析也有所起色。
全球气候变化和对清洁能源的迫切需求都是紧急事项，政府有必要对市场效益低的工业产品的发展提供补贴。
至圣先师，孔子曾说，三人行，必有我师焉。所以，在这大融合的清华大学内，存在着学霸与学渣，而人人皆是学霸，皆是学渣。
年的QS亚洲大学排名数据包括全球最大的学术同行评议以及顶尖用人单位调查，参考了全球94672名顶尖学术专家以及44884家用人单位的意见。依据11项指标，清华大学位于第四，北京大学位于第五，而京都大学位于第十五。
sem样品仓怎么打开
Air-- 基本是指泄真空，往真空室放气，这样才可以打开样品仓，或者电子枪室等。扫描电镜是高真空系统，一般是由两级或者三级真空泵串联组成，通过真空阀门和真空测量器件共同进行自动逻辑控制。
开机：打开空气开关，打开主机钥匙开关，启动电脑软件。放样：按压AIR键解除真空，轻轻拉出样品仓放入样品（取出样品或查看样品），关上样品仓后按压EVAC键抽真空。
把样品仓打开，拿个吸尘器套上真空泵用的接管吸一吸一般就一定小心，有些磁性粉末有可能进入镜筒，严重者电子束下来的很少，图像亮度非常低，用此办法简单有效。
请教薄膜样品做XRDSEM和原子力显微镜测试的先后顺序
如果薄膜导电，不需要喷金等，可以先测AFM，再测SEM，最后测XRD否则先测AFM，再测XRD，最后测SEMAFM和XRD是无损检测，但AFM怕样品弄脏，所以一般先测。
XRDSEM和AFM测试没有固定的先后顺序。XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。
SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成 FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。
可兼容集成扫描电子显微镜（SEM）X射线衍射仪（XRD）Raman光谱仪原子力显微镜（AFM）图像控制器（CCD）。
原子力显微镜工作原理：当原子间距离减小到一定程度以后，原子间的作用力将迅速上升。因此，由显微探针受力的大小就可以直接换算出样品表面的高度，从而获得样品表面形貌的信息。
不同点：1）原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
