普通光学显微镜如何测量晶体尺寸
1以左手按逆时针方向转动粗准焦螺旋，使镜筒缓慢地下降，反之，顺时针为上升。应注意在下降镜筒时，切勿在目镜上观察。一定要从右侧看着镜筒下降，以免下降过多，造成镜头或标本片的损坏。
2而显微镜的总放大倍率就是物镜放大倍率和目镜放大倍率的乘积。放大倍率是指直线尺寸的放大比，而不是面积比。光学显微镜的组成结构光学显微镜一般由载物台聚光照明系统物镜，目镜和调焦机构组成。载物台用于承放被观察的物体。
3利用x射线与晶体结构的衍射测量立方晶体的原子间距。根据相关资料查询，X射线衍射法（布拉格法）x射线的波长非常短与晶体的晶而间距基本上在同一数量级。若把晶体的晶而间距作为光栅用x射线照射晶体就能产生衍射现象。
SEM的电子显微镜图片怎样解读
1对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
2扫描电子显微镜：微观世界的观察者 扫描电子显微镜是材料科学领域的一把尖锐工具，它的存在极大地丰富了我们对材料形态界面现象损伤机制以及性能预测的认识。
3透镜的聚焦能力至关重要，它决定了显微镜的分辨率，而扫描线圈则如同电子束的画笔，在样品表面绘制出精细的图像。真空系统确保电子枪的正常运行，电源系统则供应所有运行所需的电力。
4扫描型电子显微镜来观察较大的组织的表面上的结构，因为场深度长，1毫米可以清楚的图像的不平坦表面，这样就把样品富有立体感的图像。
5扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
看sem电镜尺寸大说明样品怎么着
1扫描电镜反应的是材料本身真实的形貌，你的SEM图中出现大块，说明你的测试样品中本身就存在大块。可能的原因很多，需要结合你的具体材料分析。
2放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
3用图片上标尺的实际尺寸除以50μm 就等于放大倍数。图片如果是数字图像，标尺长度会随着数字图片的放大和缩小而改变，那么实际放大倍数就应该随时修正。另外数字放大缩小一般不改变所拍摄物体的更多表面细节 。
4SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。
5背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。第看表面形貌，电子成像，亮的区域高，暗的区域低。非常薄的薄膜，背散射电子会造成假像。导电性差时，电子积聚也会造成假像。
