【请教】样品的截面TEM怎么做
1如果是透射的话，一般切60-70纳米左右的薄片；如果是上原子力显微镜的话，就选取切出来的平整截面即可。注意样品大小，要适合上测试的原子力显微镜才行。由领拓检测来
2如果能液氮脆断最好！冷冻切片机也行，这个机子太贵，一般SEM实验室不配，去搞生物材料的TEM实验室应该有。
3同样的样品，不同的实验室做出来效果差别很大。 有对样品进行这样处理的，用乙醇或丙酮稀释，超声分散后，取液滴滴在铜板上，干燥后喷金，做样。
4块状样品制备复杂耗时长工序多需要由经验的老师指导或制备；样品的制备好坏直接影响到后面电镜的观察和分析。所以块状样品制备之前，最好与TEM的老师进行沟通和请教，或交由老师制备。
5用乙醚丙酮甲醇依次试，或者它们的几中按比例混合一下试试，溶解时浓度要小，并且要用超声波振荡。
6利用FIB-SEM在节点处定点切割截面，然后对截面成像和做EDS mapping，如图2cde和f所示，可以很直观的得到在CdS微米线的节点处内部含有Sn球。
2020-02-08-2小刘科研笔记之FIB-SEM双束系统在材料研究中的应用_百度...
1聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。
2FIB-SEM FIB-SEM是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，在材料的表征分析中具有重要的作用。
3聚焦离子束（FIB）与扫描电子显微镜（SEM）耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像加工分析操纵于一体的分析仪器。
4对于同一个样品，可在同一真空环境下完成抛光及镀膜。通过利用两个宽束氩离子源对样品表面进行抛光，去除损伤层，从而得到高质量的样品，用于SEM光镜扫描探针显微镜EDSEBSDCLEBIC或其他分析。
5前三种统称为 接触式曝光 ，曝光精度一般排序：软硬真空接触，接触的越紧密，分辨率越高，当然接触的越紧密，掩膜版和衬底材料的损伤就越大， 适合科学研究及小批量试验方面应用。
复合共挤膜液氮脆断后用SEM拍摄断面,想要知晓多少层
通过扫描电镜看试样氧化层的厚度，如果是玻璃或陶瓷这样直接掰开看断面是可以的；如果是金属材料可能在切割时，样品结构发生变化就不行了，所以要看是什么材料的氧化层。
用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好
粉末样品 - 直接固定在导电胶带或液体胶上，注意剥离纸放置方法，确保样品牢固。 截面样品 - 硅片和玻璃需用玻璃刀切割，注意避开观察面，防止损伤。 薄膜样品 - 液氮粹断技术，可得到更精确的样品表面。
既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金引导电胶。
对于块状的非导电或导电性较差的材料，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜，以避免在电子束照射下产生电荷积累，影响图像质量，并可防止试样的热损伤。试样在高真空中能保持稳定。
结构方程模型(SEM)的分析工具
1AMOS 是 Analysis of Moment Structures（矩结构分析）的缩写。AMOS 是一种用于进行结构方程模型（Structural Equation Modeling，SEM）分析的软件工具。
2LISREL，由K.G. Joreskog和D. Sorbom共同研发，是一款享有盛誉的结构方程模型（SEM）软件，以其专业深度和无可替代的权威性，在统计分析领域独树一帜。
3总结来说，结构方程模型SEM以其强大的理论支持和灵活的应用性，成为现代数据分析领域不可或缺的工具。掌握并运用它，将帮助我们更深入地理解和预测复杂现象，驱动业务决策的科学性与有效性。
XRDIRSEMEDS及紫外可见吸收的测试原理及具体分析步骤(材料测试...
1XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。
2XRD测量纳米材料晶粒大小的原理是当材料晶粒的尺寸为纳米尺度时，其衍射峰型发生相应的宽化，通过对宽化的峰型进行测定并利用Scherrer公式计算得到不同晶面的晶粒尺寸。
3XRD的测试原理，是Bragg方程，即nλ=2*d*sinθ，其中λ为入射线波长，d为晶面间距，θ为衍射角。换言之，XRD对于晶体结构的测试才是有效的。
