对比不同温度下样品晶粒尺寸
在钎焊温度为700℃750℃和800℃下晶粒尺寸有明显不同，700℃晶粒大小约为20μm，760℃晶粒大小约为50um，800℃晶粒大小超过150um。
快速冷却条件下，结晶度低，球晶尺寸小。慢速冷却条件下，结晶度高，球晶尺寸大。较高温度下结晶，球晶尺寸大，结晶度高。较低温度下结晶，球晶尺寸小，结晶度低。
低温玻璃粉烧结的温度对晶粒大小的影响很大。根据查询相关公开资料得知，研究了玻璃粉的熔融，力学性能，介电性能及其含量对MLCC瓷料烧结的影响，结果表明低温玻璃粉烧结的温度高对晶粒大小就越大。
金属型浇注晶粒小于砂型浇注，因为金属型的散热速度快。浇注温度高晶粒大于浇注温度低，因为散热慢。薄壁件晶粒小于厚壁件，因为散热速度快。厚大件的表面晶粒比心部小，因为散热速度快。
它应该是碳钢吧成分是亚共析过共析它们的奥氏体化温度都是不一样的，其最终组织也不一样。按碳钢成分初步判定，它的淬火组织是马氏体。索氏体回火温度是600°C左右。
sem右下角的标尺怎么看
用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
步骤如下：确定标尺的单位是像素还是微米。找到标尺的起始刻度，这个起始刻度表示1单位的大小，读取刻度值。使用标尺来计算像素或微米与实际尺寸之间的关系。
是bar（标尺）的意思。表示那么长是等于50微米。因为不同放大倍数的显微镜拍出来的图不一样，但有了标尺你就可以知道尺度信息。
金相用sem怎么看
1放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
2观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
3一般用Keller试剂腐蚀，更常用的是阳极覆膜。个人感觉用电解抛光制样，比较容易腐蚀出晶界。铝合金要看晶粒度一般需要电解抛光和阳极制膜，然后偏振光显微镜下观察。或用SEM的EBSD进行观察。
扫描电子显微镜图片分析怎么看颗粒尺寸
1扫描电镜可以观测样品材料的表面形貌，配置不同的附件，能够分析材料浅表层的成分结构等。扫描电镜表征银粉的颗粒尺寸。关于扫描的详细介绍，请看参考资料。
2扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
3这些功能使用户可以添加标尺，或者使用已知的样品进行比较和校准。例如，用户可以通过调整画面的缩放比例或者将一些特定的区域与已知大小的样品进行匹配等方式来估算所拍摄图像的尺寸。
