4SEM观察的样品,必须是平整的样品吗
不含强磁性，强磁性的样品观察一般会出现严重的像散，无法消去，磁性粉末如果粘的不牢固还可能会吸附到探头上，损害电镜。（当然现在很多实验室都可以做磁性样品的扫描电镜，比如铄思百检测可以做磁性样品的SEM）。
SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。
SEM样品制备通常包括固定脱水临界点干燥和表面喷金等步骤，以增强样品的导电性和二次电子的产生。SEM适用于观察大型组织表面的结构，因其具有较深的场景深度，能够清晰地显示不太平坦的表面，从而获得具有立体感的图像。
什么是扫描电镜,有什么作用
1扫描式电子显微镜不需要很薄的样品；图像有很强的立体感；能利用电子束与物质相互作用而产生的次级电子吸收电子和X射线等信息分析物质成分。扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。
2电子显微镜（electron microscope），简称电镜，是使用电子来展示物件的内部或表面的显微镜。
3扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
SEM为什么不能观察生物样品
【点击了解产品详情】扫描电镜一般指扫描电子显微镜。扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用。
从纳米藻类的形貌研究到生物样本中羟基磷灰石的生长观察，SEM在生物学考古学和地矿学等领域同样大显身手，帮助科学家揭示自然的微妙之处。在微电子工业，SEM协助分析半导体器件的微观形貌，为提升性能与故障分析提供关键线索。
扫描电镜主要用来直接观察样品表面的立体结构，图像富有立体感，但只能反映出样品的表面形貌，无法显示样品内部的详细结构。成像原理不同。
第二节 扫描电镜生物样品制备技术大多数生物样品都含有水分，而且比较柔软，因此，在进行扫描电镜观察前，要对样品作相应的处理。
新手求助,如何判别金属断口SEM形貌
1断面平齐，没有明显颈缩及变形，剪切唇极薄，是典型的脆断断口。断裂起源于表面。脆性断口高倍放大，微观形貌一般为韧窝特征，或者沿晶特征 疲劳断口。此类断口一般是低应力脆断，在工业上危害极大。
2观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
3脆性金属材料及在腐蚀介质环境下工作的高强度塑性材料发生的疲劳断裂，或缓慢加载的疲劳断裂中，其疲劳辉纹通常是脆性的。
4在初步的宏判断之后，更进一步的，应该使用显微镜及扫描电镜SEM做微观断口形貌观察。从提供的图片上看，可能的薄弱优先断裂位置如下图。
5微观特征有滑移分离和韧窝。滑移分离指金属在外载荷作用下产生塑形变形时，在金属内沿着一定的晶体学平面和方向产生滑移，多晶材料的滑移是多个滑移系的相互交叉，在断口上呈现出蛇形滑移特性。
6异同点如下：不同点：高温回火脆性表现为韧性指标随回火温度的变化曲线存在低谷，在200400℃温度区间只要回过火，脆性都无法避免；冷脆金属低温脆断断口形貌为脆性断裂，表现为无塑性变形断口平直表面有金属光泽等。
SEM图片如何分析
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
典型的形貌像如喷金碳颗粒在不同倍数下的照片，展示了SEM在观察材料表面细微结构时的威力。在失效分析中，SEM可用于玻璃珠分布粘结情况的检测，如图2和图3所示，揭示了塑料材料在循环过程中的变化。
观察不同类型的材料做对比的话，尽量选取相同放大倍数的照片进行对比。这样的话更有说服力，SEM最大的作用就是观察材料的微观结构和形貌，如果准备写文章的话，文章中将你的SEM照片视野范围内的现象描述清楚即可。
如何分析SEM电镜照片
典型的形貌像如喷金碳颗粒在不同倍数下的照片，展示了SEM在观察材料表面细微结构时的威力。在失效分析中，SEM可用于玻璃珠分布粘结情况的检测，如图2和图3所示，揭示了塑料材料在循环过程中的变化。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
二次电子像分析 下图为经抛光腐蚀之后金相样品的二次电子像，可看出SEM图像的分辨率及立体感均远好于光学金相照片。光镜下显示不清的细节在电镜中可清晰地呈现，如珠光体中的Fe3C与铁素体的层片形态及回火组织中析出的细小碳化物等。
基本上看到的就是sample的原貌，如图就是一束纳米线，很直观，不用复杂的衬度理论。而透射电镜照片就没那么简单了，要想或得较准确的解释，则需对透射电镜的各种衬度，如质厚衬度衍射衬度等有所了解。
