稀土掺杂如何证明掺进去了
是否降低内应力和减轻微裂纹产生。共掺杂就是指两种不同的元素（一般都是稀土）掺杂在基质中。比如NaYF4：Er，Yb就是指er和Yb两种稀土掺杂进入了NaYF4基质晶格中。
靠近主族的稀土金属没有可变价态，也不能形成配合物。
你这个共掺杂就是以硅酸锶锂为基体，把Eu和Ce以不同的掺杂比掺杂到硅酸锶锂中去，肯定是在制备硅酸锶锂的过程中掺杂，制备出的样品XRD图谱肯定是能对应上标准的硅酸锶锂，Eu和Ce掺杂到了硅酸锶锂的晶格之中。
题主是否想询问“离子掺杂掺杂不进去怎么办”检查离子掺杂的温度和时间是否符合要求。其次，优化掺杂剂的选择和使用方式。最后，将样品交给专业实验室进行分析，确定问题的原因。
Er3+还可用作稀土上转换激光材料的激活离子。铒激光上转换材料又分为单晶（氟化物含氧盐）和玻璃（光纤）两类，如掺铒的铝酸钇（YAP：Er3+）晶体和掺杂Er3+的ZBLAN氟化物（ZrF4-BaF2-LaF3-AlF3-NaF）玻璃光纤等，现在均已经实用化。
钙钛矿电池薄膜测sem的时候怎么治样才能保证测试的时候不变质_百度...
无论是溶液法还是气相法制备钙钛矿薄膜，只有当几种前驱体的摩尔量符合化学计量数之比时，钙钛矿薄膜才能充分反应，当其中一种前驱体的量不足时，钙钛矿就会出现反应不充分的情况。
XRDSEM和AFM测试没有固定的先后顺序。XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。
XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
如何用扫描电镜判断腐蚀程度
可以通过以下方法：观察灯丝表面是否有明显磨损或氧化腐蚀现象，如果有，则说明灯丝已经老化，需要更换。
金相是需要经过磨平，腐蚀来制备的。腐蚀的作用是将晶界上的物质腐蚀掉，这样境界处就出现凹下去的，和其他晶体表面（平的）就不一样了。电镜观察物体的表面形貌，也就是表面是什么样的。
试样要腐蚀并打磨平整，平整的表面在电镜下便于观察组织，若不腐蚀打磨，焊接产生的焊渣杂质及缺陷（如气孔，夹渣等）会影响观察。
原理不同：金相显微镜利用几何光学成像原理进行成像，扫描电镜利用高能量电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息。
例如，你所讲的铸钢，在通常的盐雾试验后，其表面的腐蚀到底是均匀腐蚀还是非均匀腐蚀（孔蚀）是化学腐蚀电化学腐蚀还是符复合机制是沿晶界还是穿晶腐蚀等等这些，都需要你对界面和基体表层进行分析观察。
主要有以下几个方面：光源不同，金相显微镜以可见光为光源，扫描电镜以电子束为光源。
【知识】扫描电镜(SEM)知识大全
1扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
2扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
3电子光学系统：微观世界的造像大师SEM的电子光学系统负责产生极其细窄的电子束，通过精确扫描样品表面，捕捉每一个微小细节。
4放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
5深入解析SEM扫描电镜：实例探索与应用 SEM，全称扫描电子显微镜，是微观世界里的精密探索者。它以电子束作为光源，通过一系列复杂构成，揭示样品的微观形貌与成分秘密。
