为什么扫描电镜分析材料元素组成是不能测定H的含量
1氢元素特征X射线能量很低。低能量x射线容易被基底吸收。因此低能量X射线产额低，如果产额低于噪音，就无法检测到，需要提高采集时间。根据统计原理进行的定量分析更加困难。
2扫描电镜能谱分析通过激发原子发射特征X射线来确定成份，只能测试材料表面，根据电压不同测试的厚度不同，且轻元素是测试不了的，不记得是Be还是B之前的元素了，反之从C开始都能测试到，准确性很差。
3应该是要干样，不然植物中所含的水分，会影响燃烧过程，并且也会影响对植物材料本身有机物中H元素含量的测定。元素分析仪是将粉碎研磨后的样品，通过锡囊或银囊包裹，使用自动进样器送入燃烧反应管中。
4X射线荧光光谱法：通过照射样品，使样品发射出X射线，并根据X射线的能量来确定样品的元素种类和含量。 扫描电子显微镜（SEM）和能谱分析（EDS）：通过SEM观察样品的表面形貌，通过EDS分析样品的元素成分。
5判断扫描电镜性能主要依据分辨率和有效放大倍数。分辨率即能够分辨的最小距离。扫描电子显微镜主要用于各种材料的微观分析和成分分析，已经成为材料科学生命科学和各生产部门质量控制中不可缺少的工具之一。
6俄歇电子能谱：是用一束汇聚电子束，照射固体后在表面附近产生了二次电子。由于俄歇电子在样品浅层表面逸出过程中没有能量的损耗，因此从特征能量可以确定样品的元素成分。
SEM图片如何分析
1打开SEM图像。校准图像。增强图像。分割图像。测量图像。分析图像。保存和导出。
2放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
3第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
金属材料的化学成分如何检测
金属材料的化学成分检验方法有：化学分析原子光谱分析X射线荧光分析质谱分析。金属材料的化学成分是决定其性能的关键因素。为了确保金属材料的质量和可靠性，对其化学成分进行准确的检测是至关重要的。
金属成分分析 2）电感耦合等离子体发射光谱法 电感耦合等离子体发射光谱法的优点是准确高效测试样品范围宽。
电化学分析法是根据被测金属中元素或其化合物的浓度与电位电流电导电容或电量的关系来进行分析的方法。主要包括电位法电解法电流法极谱法库仑（电量）法电导法以及离子选择电极法等。
成分检测范围：金属材料成分分析：各类铁基合金材料（不锈钢结构钢碳素钢合金钢铸铁等）铜合金铝合金锡合金镁合金镍合金锌合金等。高分子材料：塑料橡胶油墨涂料胶黏剂塑胶等。
