陶瓷块状SEM试样怎样制备
1先用2000目或更小的砂纸将表面打磨平整，不能有明显的缺陷。如果你对表面要求很高，再做下表面抛光就可以了。不知道做SEM想得到什么结果，是看粒子的烧结情况，还是看里面有没有你想要的特定结构。
2观察大试样：它能够直接观察直径100mm，高50mm，或更大尺寸的试样，对试样的形状没有任何限制，粗糙表面也能观察，这便免除了制备样品的麻烦，而且能真实观察试样本身物质成分不同的衬度（背散射电子像）。
3离子溅射仪为扫描电子显微镜（SEM）最基本的样品制备仪器，在一些情况下，通过使用离子溅射仪可以帮助SEM获得更好的图像及特征点。
4试样（表面）导电的固体，试样可以是块状或粉未状。不导电的试样，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜。
5抛光后的SiC样品，置于沸腾的Murakami溶液中进行腐蚀。
6直接拍表面就可以了。或者考虑表面抛光后，进行热腐蚀，不过拍出来的就是个平板，没立体感。
如何在sem图上标尺度,用什么软件图片已经扫描回来了。大概是纳米级的...
把SEM图用photosho处理。其次在图里按远标尺长度重新画标尺。最后锁定纵横比，添加字母即可。
场深：在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。
扫描电子显微镜（SEM）一般10～20万元，能观察到0.001微米，看物体表面的形貌。
进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了，基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片，必须保持分散液状态来做电镜扫描。
在SEM中，像素大小取决于扫描探针的直径和扫描分辨率，而放大倍数则是由物理尺寸和像素尺寸之间的比例决定的。假设扫描电镜的像素大小为1nm，并且我们想知道标尺50μm是多少倍。
sem图片中不一样的标尺可以变成统一的吗
1要。一般SEM图本身都是带有标尺的，但是每个人的要求不一样，重新做标尺可以让结果更美观，一般用PS处理就可以了。
2sem图片是小型的图片，倍数是随机的，是可以改变的，所以放大倍数不同，但是可以换成相同的，该图片应用在计算机中，使用广泛。
3用windows画图软件打开图像，选择图像区域，图像反色。
4全部选择后，复制粘贴到新建文档中，记得是仅粘贴文本。然后再统一设置。
5在进行漂移校正时，使用该标尺可能会更加准确。利用扫描电镜成像软件大多数SEM数据采集软件中都设有一些功能可以处理没有标尺的情况。这些功能使用户可以添加标尺，或者使用已知的样品进行比较和校准。
不锈钢产生晶间腐蚀是晶界析出富Cr相,让你分析相产物和形貌,请说明使用...
1如要看碳化Cr析出相，制金相试样经腐蚀后，1）在金相显微镜高倍下看是否能观察到；2）用SEM或电子探针，做面扫描；3）TEM的复型技术。
2晶间腐蚀是晶界在一定条件下产生了化学和组成上的变化，耐蚀性降低所致，这种变化通常是由于热处理或冷加工引起的。以奥氏体不锈钢为例，含铬量须大于11%才有良好耐蚀性。
3硌的碳化物主要在晶间析出，由于这种碳化物的含硌量远高于基体中的含硌量，他的形成势必引起临近区域的聚集扩散，从而造成贫硌。由于贫硌不能抵抗某些介质的腐蚀就形成了晶间腐蚀。再就是腐蚀和应力或晶间不均匀性也有关系。
4铬镍不锈钢在450～850℃保温或缓慢冷却时，会出现晶问腐蚀。合碳量越高，晶间蚀倾向性越大。此外，在焊接件的热影响区也会出现 晶间腐蚀。这是由于在晶界上析出富Cr的Cr23C6。
5晶间腐蚀是一种常见的不锈钢腐蚀形式，它在金属晶界处发生，导致金属表面出现腐蚀坑。对于奥氏体不锈钢来说，晶间腐蚀主要发生在在碳含量较高的区域，具体是在约750°C至900°C的温度范围内。
6一般认为，晶间腐蚀是碳从饱和的奥氏体以Cr23C6形态析出。造成晶界处奥氏体贫铬所致。
金相显微观察试样中,以下这些图片,都是什么金属
金相显微观察试样中，以下这些图片，都是什么金属 我来答 分享 微信扫一扫 新浪微博 QQ空间 举报 浏览5 次 可选中1个或多个下面的关键词，搜索相关资料。也可直接点“搜索资料”搜索整个问题。
通过在显微镜下观察到的金相显微组织初步分析材料类型以及材料可能具备的机械性能等。
在金相中通常呈白色；P（Pearlite）——珠光体（组织），铁素体和渗碳体的混合组织，通常两者呈片层交替分布，在金相中通常呈黑色。另：渗碳体（Fe3C）是一种原子排布较复杂的化合物。
将一小块金属材料用金相砂纸磨光后进行抛光，然后用侵蚀剂侵蚀，即获得一块金相样品。在金相显微镜下观察，可以看到金属材料内部的微观形貌。这种微观形貌称做显微组织（简称组织）。
