用sem分析合金金属表面形貌的什么内容
1分析和解释，通过观察SEM图像，分析样品的微观结构晶体形貌表面缺陷晶界颗粒分布。
2形貌：仪器放大倍数范围是100倍-20W倍，常规样品可以拍摄到8-10W倍，导电性不好或磁性样品大于8W倍可能会不清晰。
3从试样表面形貌获取多方面材料信息：SEM结合能谱可以测定金属及合金中各种元素的偏析，对金属间化合物相碳化物相氮化物相及铌化物相等进行观察和成分鉴定；对钢铁组织中晶界处夹杂物或第二相观察以及成分鉴定。
4金属材料表面分析是对金属表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分结构和能态等分析的材料物理试验。也是一种利用精密仪器分析手段，揭示材料及其制品的表面形貌成分结构或状态的技术。
5时间久了的最大问题是氧化，但是作为SEM观察，其实氧化也无所谓了，重要的是注意，别把断口碰了，以免裂纹表面形貌损坏。关于寻找裂纹源其实很简单，疲劳端口上通常分为裂纹起始区，裂纹扩展区和瞬断区。
6形貌衬度得形成就是由于某些信号，如二次电子背散射电子等，其强度就是试样表面倾角得函数，而试样表面微区形貌差别实际上就就是各微区表面相对于入射电子束得倾角不同。
比较在不同温度下烧结的某氧化物陶瓷的SEM形貌
1在日用与工艺收藏瓷中，高温瓷指烧成温度在1300℃以上的釉彩，我国古代的釉下青花釉里红等传统瓷器，均为高温制成。
2不同温度下晶粒生长情况不同的，一般要查看烧结后晶粒状况的话，要以烧结温度进行热处理。如果要查看晶体随温度变化的情况，您可以用不同温度对样品进行热处理，然后分别送样，这样才能体现晶体生长随温度变化的情况。
3烧结后以不同速度冷却的氧化物陶瓷试样为什么可能显示明显的介电性能差异 压电性能和介电性能这是两个完全不同的应用概念。只有他们的介质都是陶瓷片，这个是共通的，外形也基本相同，两个极板夹着中间陶瓷介质。
4℃。添加Bi2O3后的热蚀温度低于烧结温度105℃时，都能获得效果较好的SEM形貌。热蚀溶液的配方是5～15％NaOH，其余为水，热蚀温度为50～90℃，热蚀时间通常为20～120秒。
采用SEM观察材料形貌时应注意那些问题
材料的宏观性能往往与其本身的成分结构以及晶体缺陷中原子的位置等密切相关。观察试样中单个原子像是科学界长期追求的目标。一个原子的直径约为1千万分之2—3mm。
SEM就是观察表面形貌的一种方法。对于块状材料，如果观察断口形貌，则要把样品打断，将断口在丙酮中超声处理，去除碎渣，再喷碳或金。对于抛光样品，需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。
时间久了的最大问题是氧化，但是作为SEM观察，其实氧化也无所谓了，重要的是注意，别把断口碰了，以免裂纹表面形貌损坏。关于寻找裂纹源其实很简单，疲劳端口上通常分为裂纹起始区，裂纹扩展区和瞬断区。
扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
镀膜后的样品表面不再是原始材料，而是被镀膜材料所覆盖，这可能会导致原子序数衬度的丧失，甚至可能对样品形貌造成误导。
表面形貌观察：使用SEM观察被腐蚀的样品表面形貌，可以看到腐蚀后的表面是否出现了凹陷裂缝粗糙等改变，这些表面形貌的变化可以初步反映出材料的腐蚀程度。
SEM图片如何分析
1打开SEM图像。校准图像。增强图像。分割图像。测量图像。分析图像。保存和导出。
2放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
3第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
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放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
一般用Keller试剂腐蚀，更常用的是阳极覆膜。个人感觉用电解抛光制样，比较容易腐蚀出晶界。铝合金要看晶粒度一般需要电解抛光和阳极制膜，然后偏振光显微镜下观察。或用SEM的EBSD进行观察。
将样品抛光的非常平整。观察样品表面的结晶方向。通过结晶方向判断抛光界面。
