sem的eds和mapping什么区别
不准。EDS测轻元素的%，不是很准确。比如测C的量那么测O的%可信比C大多少，基本上和C是一样的。与C不同测量结果有O可以相信，含量多少的可信度和其它超轻元素相当。
EDS通过不同波长区分元素的，EDX是通过不同能量区分元素的，这两者的结构完全不同。
面分布（Mapping） 面分布模式（如图4）则提供了元素在样品表面的直观分布图像，通过电子束扫描，元素的分布以亮度或颜色变化展现，有助于研究杂质相变和元素偏析的分布，常常与形貌分析相结合，提供更全面的信息。
EDS自动采集SEM设定图像采集参数，包括放大倍数和像素尺寸。
EDS做微区分析时所激发的体积为10um3 左右；EDS常常与SEM结合使用，可对目标部位进行点线面形貌扫描和成分分析；检测极限：0.1%，只能做半定量分析，精度一般在1%到5%，深度一般为15微米。
如何分析扫描电镜图片
标定尺度：通过已知尺寸的标志物（例如，栅格标记）来确定图像中的比例尺。测量工具：使用图像处理软件中的测量工具来测量对象的尺寸。这些工具通常可以绘制线段多边形或圆形来测量长度面积和直径等参数。
EDS点分析，通过选择感兴趣的点进行定性定量分析，可精确测定晶界析出相等微结构成分。例如，在钴镍合金的背散射电子照片中，通过五个不同点的X射线能谱图，我们可以清晰地了解各相成分的分布。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。
sem扫描电镜图片分析微相分离的方法如下。使用SEM扫描电镜进行扫描，获取影像对所获得影像进行处理，根据微相特征和形态信息进行分析。利用图像处理软件对图像进行处理，提取具有代表性的信息。
扫描电镜主要是二次电子像，主要反映试样表面的形貌特征。像的衬度是形貌衬度，衬度形成主要决定于试样表面相对于入射电子束的倾角。试样表面凸出处，二次电子发射电流比平坦处和凹陷处大。
eds测表面还是穿透
EDS能谱仪，是一种分析物质元素的仪器，常与扫描电镜或者透射电镜联用，在真空室下用电子束轰击样品表面，激发物质发射出特征x射线。
微观结构的成分往往就不能代表整体成分，和整体元素含量差别会很大。EDS也可以选取扫描来测试更大区域的平均成分，在扫描电镜很低放大倍数戏，探测最大区域可达到100mm。可以粗略知晓材料的主要成分含量。
eds穿透能力和样品密度也有关的。eds不是表面技术，和sem形貌信号源完全不同，当然没可比性，eds纵向分析深度至少也是微米级。扫描电镜的能谱分析就是分析的表面附近一两个微米以内范围的成分。
eds是指能谱仪。能谱仪（EDS，Energy Dispersive Spectrometer）是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
能谱仪（EDS，Energy Dispersive Spectrometer）是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。原理：利用不同元素的X射线光子特征能量不同进行成分分析。
