sem做能谱最低多少可以扫出来
1手持金属探测器一般是1—40CM左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）探盘式地下金属探测器一般是1—15M左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）远程地下金属探测器是1—50M深。
2MIxed cellulose ester翻译成中文是混合纤维滤膜，由精制硝化棉，加入适量醋酸纤维素丙酮正丁醇乙醇等制成。
3扫描电镜的能谱分析就是分析的表面附近一两个微米以内范围的成分。这是因为电子束的能量有限，不可能打到厚度较深的区域。sem电子束的穿透深度是微米级的，如果你样品表面只有几纳米，建议用其他表征方法。
4在最佳的实验条件下，能谱的最低探测极限在0.01-0.1%上下，离ppm还有些距离。如果可以制成TEM样品，也许可以试试电子全息。半导体里几个ppm的参杂可以用这个方法观察到。
5如果是热发射sem磁性要求要低一些，如果是场发射sem，则要求就要严格的多。比如铁，钴，镍为铁系元素，其化合物磁性较强，因而一般不能直接测，所以要将有磁性的材料进行消磁处理就可以了。
6如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。场深在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。
搞定SEMTEM样品制备方法,拍出高级电镜图!
1扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
2超薄切片法这是最常用的方法，因为可以观察细胞或其它样品内部的细微结构。通常是要按照一定程序对样品进行固定，脱水，然后包埋在树脂中作为支持物，用超薄切片机切成极薄的切片。
3建议由老师制备或在老师指导下制备。）4．等15 min以上，以便乙醇尽量挥发完毕；否则将样品装上样品台插入电镜，将影响电镜的真空。块状样品制备 1．电解减薄方法 用于金属和合金试样的制备。
4放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。
5同样的样品，不同的实验室做出来效果差别很大。 有对样品进行这样处理的，用乙醇或丙酮稀释，超声分散后，取液滴滴在铜板上，干燥后喷金，做样。
6图13-2-1 SEM的基本结构示意图 在扫描电镜中，电子枪发射出来的电子束，经3个电磁透镜聚焦，成直径为20 μm～25 的电子束。置于末级透镜上部的扫描线圈能使电子束在试样表面上做光栅状扫描。
显微镜放大倍率是怎么算的
1显微镜的放大倍数计算公式为：放大倍数=物镜放大倍数×目镜放大倍数。显微镜的放大倍数是物镜和目镜放大倍数的乘积，而不是物镜和目镜放大倍数的和。
2显微镜的总放大倍数等于物镜和目镜放大倍数的乘积.所以目镜10 物镜100.25，放大倍数是10*10=100倍。
3显微镜放大率计算公式显微镜的放大倍数=物镜倍数×目镜倍数。拓展知识：显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器，是人类进入原子时代的标志。显微镜是主要用于放大微小物体为人的肉眼所能看到的仪器。
4显微镜的总放大倍数等于物镜和目镜放大倍数的乘积，所以目镜10物镜100.25，放大倍数是10x10=100倍。
