纳米材料粒度测试方法大全
筛分法：筛分法是一种最传统的粒度测试方法，也是过去最常用的方法，它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。
测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。
XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
透射电镜法：透射电镜是一种直观可靠的绝对尺度测定方法，对于纳米颗粒，它可以观察其大小形状，还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度，显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计，分门别类给出粒度分布。
你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下...
SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。
纳米材料：当物质到纳米尺度以后，大约是在0.1—100纳米这个范围空间，物质的性能就会发生突变，出现特殊性能。 这种既具不同于原来组成的原子分子，也不同于宏观的物质的特殊性能构成的材料，即为纳米材料。
由氯金酸通过还原法可以方便地制备各种不同粒径的纳米金，其颜色依直径大小而呈红色至紫色。
图1 重质碳酸钙颗粒表面修饰前后的SEM 形貌 （a）原料重质碳酸钙颗粒；（b）（c）复合重质碳酸钙颗粒 由图1（b）（c）可见，包覆颗粒大小均匀，粒径80nm左右，包覆率高。
用SEM照片能进行粒度分析
1粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。
2其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。
3我一般不建议采用做SEM或TEM统计的方法来得到粒径分布，因为粒径分布是大量粒子的统计结果，就做几张照片统计太片面，不太准，而且一般比激光粒度仪测得的数据偏小。另外小角度XRD也可以测定粒径的分布。
粒径分布图制作方法!
给软件固定一个标尺，之后粒径通过在图上划线得到相对长度，软件会记录你划的每一个粒径的长度，给出数字数据并做出分布图。打开图片。文件-打开。为了方便随后的划线误差小，也可以找一张局部高倍的。
双击打开桌面上的WPS2019软件。单击新建演示空白文档。插入菜单→形状→矩形。绘制矩形，修改填充颜色类型（白色）。右击直线选锁定绘图模式，按辅助键Shift在适当的位置绘制出多条直线。
粒度分析的结果，可按表6-3所示的格式整理，然后作出直方图频率曲线图累积曲线图和概率累积曲线图（图6-5，图6-6）。图的横坐标表示颗粒大小，纵坐标表示百分数或累积百分数。
数据导出。给软件固定一个标尺，之后粒径通过在图上划线得到相对长度，软件会记录你划的每一个粒径的长度，给出数字数据并做出柱状分布图。粒径分布图是指不同粒径范围内的颗粒的个数（或质量或表面积）所占的比例。
sem扫描电镜图片怎么分析
1确实没有任何”大神“能够分析你提供的图片。要分析一张电镜图片有很多前提：你所分析的对象是什么目的是什么在什么条件下取样在什么情况下取照照该视场的目的想说明什么等等等等。
2用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。
3分析数据：根据扫描电镜照出的图像，可以了解涂层的形貌厚度成分和微观结构等信息。总之，使用扫描电镜照涂层材料的断面图，可以从微观角度来了解其结构和性能特征，对研究涂层领域具有非常重要的价值。
4微孔孔深可以用3D显微镜或者聚焦离子束电镜测量，或者用景深法测量。微孔面积可以用电镜自带的图像处理功能（如果有的话）计算或者下载ImageJ软件测量。
5随着科学技术水平的提高，其放大倍数可达几十万倍，分辨率可达纳米级别，是形貌和成分分析领域极其重要的一种工具。sem工作原理：二次电子：二次电子成象是使用扫描电镜所获得的各种图象中应用最广泛，分辨本领最高的一种图象。
99瓷粉制成饼了还有办法测粒径吗
瓷粉制成饼了还有办法测粒径，可以尝试以下方法进行粒径的间接评估：扫描电子显微镜（SEM）：使用扫描电子显微镜观察饼状样品的表面，分析颗粒的形态和分布。
