万用表测ito玻璃测的是什么电阻
方块电阻。镀在锡面的话，很容易产生锡斑，万用表测的是镀在玻璃面板上的一层ITO薄膜的方块电阻，将万用表打至欧姆档，用探针分别测试两个点，有反应的为ITO膜面。
ITO导电玻璃的方阻，是指镀在玻璃面板上的一层ITO薄膜的方块电阻（即ITO的表面电阻率）。对它的测量可以反映薄膜的厚度透过率...区别是：ITO是在氧化锡中掺了铟离子；FTO是在氧化锡中掺了氟离子。
ITO层温度性能A测试方法：把待测玻璃原片在3000C的空气中，加热30分钟，测试其加温前后的同一点面电阻阻值。B判定标准：ITO导电膜方块电阻值应不大于原方块电阻的300%为合格。
ITO导电玻璃按电阻分，分为高电阻玻璃（电阻在150500欧姆）普通玻璃（电阻在60150欧姆）低电阻玻璃（电阻小于60欧姆）。
ITO玻璃方阻可以做到在50-100欧，ITO film一般在150-200欧。通道阻抗一般做到50k ohm以上IC就无法驱动了。
如何分析SEM电镜照片
典型的形貌像如喷金碳颗粒在不同倍数下的照片，展示了SEM在观察材料表面细微结构时的威力。在失效分析中，SEM可用于玻璃珠分布粘结情况的检测，如图2和图3所示，揭示了塑料材料在循环过程中的变化。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
二次电子像分析 下图为经抛光腐蚀之后金相样品的二次电子像，可看出SEM图像的分辨率及立体感均远好于光学金相照片。光镜下显示不清的细节在电镜中可清晰地呈现，如珠光体中的Fe3C与铁素体的层片形态及回火组织中析出的细小碳化物等。
基本上看到的就是sample的原貌，如图就是一束纳米线，很直观，不用复杂的衬度理论。而透射电镜照片就没那么简单了，要想或得较准确的解释，则需对透射电镜的各种衬度，如质厚衬度衍射衬度等有所了解。
SEM扫描电镜图参数代表的意思【点击了解产品详情】放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。
sem扫描电镜测量需要多长时间
分钟。sem扫描电镜喷金是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段，喷金处理需要5分钟，在材料科学研究中发挥了重要作用。为了获得更好的扫描电镜图像，扫描电镜有必要结合喷金仪（离子溅射仪）使用。
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
一般250到500元每个样品。扫描电镜比较费时的是样品处理。测试速度我见过最快的是当天出结果，你可以搜一搜飞秒检测。
sem扫描电镜图片怎么分析
对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
灰度分析：将图像转换为灰度图像，并使用灰度直方图来了解亮度分布。纹理分析：应用纹理分析方法，如灰度共生矩阵或局部二值模式，来评估图像中的纹理均匀性。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
线扫描和面扫描则提供了元素在空间分布的直观图像，线分析用于材料表面改性研究，而面扫描则在试样表面元素分布的可视化上表现卓越，尽管它对低含量元素的检测稍显不足。
