用SEM照片能进行粒度分析
1粒度分析有多种方法,其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究,具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析,但需要良好的制样,获得可以接受的结果。
2其实,SEM只能知道局部的大致粒径,并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成,可以输出完整的粒径分布曲线报告。
3我一般不建议采用做SEM或TEM统计的方法来得到粒径分布,因为粒径分布是大量粒子的统计结果,就做几张照片统计太片面,不太准,而且一般比激光粒度仪测得的数据偏小。另外小角度XRD也可以测定粒径的分布。
4纳米材料粒度的测试方法多种多样,但不同的测试方法对应的测量原理不同,因而不同测试方法之间不能进行横向比较。
5可以获得粒度分布。激光相干光谱粒度分析法 通过光子相关光谱(PCS)法,可以测量粒子的迁移速率。而液体中的纳米颗粒以布朗运动为主,其运动速度取决于粒径,温度和粘度等因素。
6第扫描电镜照片是灰度图像,分为二次电子像和背散射电子像,主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌,基本和自然光反映的形貌一致,特殊情况需要对比分析。
目前常采的粒度分析方法有哪些
1常用的有:筛分法,沉降法,超声波法,透气法,激光法,电镜法,图像发,电阻法,动态光散射法。目前最常用粒度测试为激光法,具有速度快,准确度高等特点。
2大概有以下几种方法: 筛分法,这个通过查看筛余量,过筛率等来判断粉体粒度的分布,优点是成本低,缺点是只能给出点的粒径,不能给出全部粉体的粒度分布。
3目前常用的有沉降法激光法筛分法图像法和电阻法五种,另外还有几种在特定行业和领域中常用的测试方法。 沉降法是根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同测量粒度分布的一种方法。
4砂岩和粉砂岩的粒度分析常采用筛析法沉速法和薄片法,常用的沉速法有阿兹尼法沙巴宁法和罗宾逊法等。
检测纳米颗粒粒径分布的手段有哪些
动态光散射也称光子相关光谱,是通过测量样品散射光强度的起伏变化得出样品的平均粒径及粒径分布。液体中纳米粒子以布朗运动为主,其运动速度取决于粒径温度和黏度系数等因素。
微粒分散系中常用的粒径表示方法有几何学粒径比表面粒径有效粒径等。这些微粒大小的测定方法有光学显微镜法电子显微镜法激光散射法库尔特计数法Stokes沉降法吸附法等。
测粒度分布的有:筛分法沉降法激光法电感法(库尔特)。测比表面积的有:空气透过法(没淘汰)气体吸附法。直观的有:(电子)显微镜法全息照相法。显微镜法(Microscopy)SEMTEM;1nm~5μm范围。
激光粒度分析法:测量精度高,测量速度快,重复性好,可测粒径范围广以及可进行非接触测量等。激光粒度分析有衍射式和散射式两种。
求纳米颗粒粒径分布分析方法(详细)
1XRD线宽法:一般可通过XRD图谱,利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
2SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。
3可以获得粒度分布。激光相干光谱粒度分析法 通过光子相关光谱(PCS)法,可以测量粒子的迁移速率。而液体中的纳米颗粒以布朗运动为主,其运动速度取决于粒径,温度和粘度等因素。
4纳米颗粒是指在100纳米以下的,都叫纳米颗粒。测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪(也有低端国产的粒度仪),可以提供粒度报告,尺寸分布报告,体积分布报告,强度分布报告等多种数据。
你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下...
1SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。
2纳米材料:当物质到纳米尺度以后,大约是在0.1—100纳米这个范围空间,物质的性能就会发生突变,出现特殊性能。 这种既具不同于原来组成的原子分子,也不同于宏观的物质的特殊性能构成的材料,即为纳米材料。
3由氯金酸通过还原法可以方便地制备各种不同粒径的纳米金,其颜色依直径大小而呈红色至紫色。
4图1 重质碳酸钙颗粒表面修饰前后的SEM 形貌 (a)原料重质碳酸钙颗粒;(b)(c)复合重质碳酸钙颗粒 由图1(b)(c)可见,包覆颗粒大小均匀,粒径80nm左右,包覆率高。
5重点解决纳米材料应用的关键技术问题。纳米材料属于上游产品,一方面用于传统产品的升级,两一方面用于纳米科技新产品的开发,而要在下游产品中体现纳米材料的优越性能就必须以纳米制造技术作为支撑。
6SEM还可以用来观测电池颗粒循环老化的情况。目前,经分析发现,颗粒碎裂表征成为学者改善正极材料性能的切入点。
纳米材料粒度测试方法大全
1测粒度分布的有:筛分法沉降法激光法电感法(库尔特)。测比表面积的有:空气透过法(没淘汰)气体吸附法。直观的有:(电子)显微镜法全息照相法。显微镜法(Microscopy)SEMTEM;1nm~5μm范围。
2筛分法:筛分法是一种最传统的粒度测试方法,也是过去最常用的方法,它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。
3XRD线宽法:一般可通过XRD图谱,利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
4透射电镜法:透射电镜是一种直观可靠的绝对尺度测定方法,对于纳米颗粒,它可以观察其大小形状,还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度,显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计,分门别类给出粒度分布。