石墨上SEM会有问题吗
可能原因：样品空白的吸光值过高，与低浓度的标液相减，标液会出负值。升温过程中灰化温度过高，造成灰化阶段就丢失大部分铅，出来的值要么不稳定，要么成负值。
也无其他特别的问题；做完电镜关闭高压，等30秒以上，待灯丝冷却后再放气为宜，主要也是为了保护电子枪；样品台有它的额定移动距离，包括平面方向和上下方向，平面方向移动到极限时会有报警提示，看到提示往回移动即可。
同时为了做好关键词设置也可以参考同行业竞争对手的设置情况，有时候我们经常会看到在搜索某行业的龙头企业时，这个词的推广位上总是出现其它公司的竞价广告。
我认为没有所谓的适合与否，只要你对这份工作有兴趣并肯努力就新手做SEM一定要把最基本的SEM概念理解清楚。SEM包括SEO。这个根据你的能力来定。能力好的话，薪水不是问题。
怎样才能拍出好看的氧化石墨烯的SEM照片
采用硫酸和高锰酸钾，通过化学插层氧化-破碎方法制备了氧化石墨烯（GO），通过扫描电镜（SEM）激光粒度分析红外光谱（FT-IR）紫外-可见光谱（UV-vis）和原子力显微镜（AFM）等测试手段对所制备的氧化石墨烯进行了分析和表征。
当然光学显微镜扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图像，可以看到氧化石墨烯还原后的缺陷。
为了在SEM图像中更好地识别氧化石墨烯，可以尝试以下方法：使用透射电子显微镜（TEM）或原子力显微镜（AFM）等其他显微技术，这些技术能提供更高的分辨率，更适合观察单层或少层材料。优化样品制备过程，确保GO的良好分散和暴露。
定好构图：找好拍摄场景，选好角度和光线，尽可能避免背景杂乱或干扰，保持主体突出。 控制光线：选择合适的光线强度，不要过于强烈或柔和，投射角度要合适。
扫描电镜看的是样品的局部区域，可能你看到的样品区域刚好就没有石墨烯。2，你的样品为符合才能，可能在复合材料制备过程中，石墨烯的结构已经被破坏，所以看不到。
石墨烯研究用什么显微镜
透射电子显微镜法：透射电子显微镜法是一种常见的判断石墨烯的方法，使用高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）来研究石墨烯的结构和性质，可以得到石墨烯和碳的复合材料中石墨烯层的厚度缺陷及其它详细信息。
当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘盐类和石墨烯分子。当然光学显微镜扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。
精确操控的原子力显微镜 Shiotari教授的团队采用了一种革命性的工具——原子力显微镜（AFM），凭借纳米针状探针的精细操作，他们实现了对分子层面的精密控制。
德国徕卡DM2500P不错，成像清晰，性价比高，是常规透反两用偏光显微镜，适合于工业分析和质量控制的全能仪器， 例如分析玻璃，塑料，纺织，纤维以及半导体行业的显示面板检测。请采纳答案，支持我一下。
sem观测石墨烯结构得放大多少倍
1万倍。sem可以放大纳米级别的小颗粒呈现清晰的图像，根据不同的放大倍数可以得到不同精度的数据。200nm的放大倍数是20万倍。
2扫描电镜看的是样品的局部区域，可能你看到的样品区域刚好就没有石墨烯。2，你的样品为符合才能，可能在复合材料制备过程中，石墨烯的结构已经被破坏，所以看不到。
3电子显微镜的放大倍数通常远远超过光学显微镜。一般来说，电子显微镜的放大倍数可达到几百至数百万倍，甚至更高。这使得电子显微镜成为研究微观结构和纳米尺度物体的强大工具。
4SEM（扫描电子显微镜）为我们揭示了石墨烯及其复合粉末的微观结构，呈现出细腻的纹理和形态特征，展现其精细的二维特性。
5当研究小组在室温下将厚度减少两个数量级时，观察到 k（热导率）增加了五倍 。结果表明，电导率的上限比预期要高， 更薄长宽比更大的样品 可以表现出更大电导率。
6原子力显微镜表征石墨烯的什么性质 当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘盐类和石墨烯分子。
