纳米材料粒度测试方法大全
1测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。
2筛分法：筛分法是一种最传统的粒度测试方法，也是过去最常用的方法，它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。
3XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
SEM扫描电镜测试的原理与样品制备
sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接收放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
扫描电镜原理：所谓扫描是指在图象上从左到右从上到下依次对图象象元扫掠的工作过程。在电子扫描中，把电子束从左到右方向的扫描运动叫做行扫描或称作水平扫描，把电子束从上到下方向的扫描运动叫做帧扫描或称作垂直扫描。
SEM的工作原理与使用方法SEM的工作原理扫描电镜（SEM）是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。
分析氧化锌纳米线的形貌观察与晶体方向的确定用什么材料分析方法_百度...
证明氧化锌是纳米材料的方法。晶粒尺寸及其分布和形貌。晶界及相界面的本质和形貌晶体的完整性和晶间缺陷的性质。跨晶粒和跨晶界的成分分布。微晶及品界中杂质的剖析。
粉末X射线衍射法，除了用于对固体样品进行物相分析外，还可用来测定晶体 结构的晶胞参数点阵型式及简单结构的原子坐标。
无定性的东西可以形成形貌，纳米线也可以是无定性的，也可以是结晶的，海胆形的形貌和结晶性可能有直接关联。形貌可以决定材料性能，结晶性也有时候两者是有联系的，比如六方纤锌矿结构氧化锌的形貌是六边形。
对一晶体材料的单晶颗粒的形貌和晶体物相进行同步分析，可以采用显微粒径发。好的金相显微镜，可以直接观察晶体颗粒的形貌，并可以统计粒径分布。
作为干法化学分析方法的典型代表，越来越多的陶瓷材料检测采用X射线荧光分析法进行测定材料的化学成分，主要在于这种方法的快速准确及操作简捷。
通过SEM电镜照片怎样确定晶粒平均尺寸
1图片里有标尺的，和那个比比不就知道了，放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。
2举例来说，如果我们有一张SEM扫描电镜图片，我们需要对其进行预处理，如去噪声增强对比度等。然后，我们可以利用图像分析软件，测量图片中的颗粒大小，计算其分布情况等。
3用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。
4第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
5在进行漂移校正时，使用该标尺可能会更加准确。利用扫描电镜成像软件大多数SEM数据采集软件中都设有一些功能可以处理没有标尺的情况。这些功能使用户可以添加标尺，或者使用已知的样品进行比较和校准。
