透射电镜的图像和扫描电镜的图像怎样看
扫描电镜看起来很有立体感，这是扫描电镜的一个优势。如图：http：a0.att.hudong.com75470130000020631812163447594284jpg 而投射电镜则是没有立体感的。
透射电子显微镜电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。透射电子显微镜在材料科学生物学上应用较多。
TEM是透射电镜，主要是观察材料内层结构，而SEM是场发射扫描电镜，用于材料表层形貌观察。两种不同的表征方法测出的图形自然不同，一般电池正极材料两种图形都可以用。
图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。观察得到的图像不同。
结构差异：主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。
扫描电镜图片如何分析
图像叠加：将测量结果叠加到原始图像上，以更直观地展示分析结果。进一步分析：根据具体研究目标，可能需要进行更复杂的分析，如形状分析聚类分析或机器学习方法，以识别和分类不同的形貌特征。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
EDS点分析，通过选择感兴趣的点进行定性定量分析，可精确测定晶界析出相等微结构成分。例如，在钴镍合金的背散射电子照片中，通过五个不同点的X射线能谱图，我们可以清晰地了解各相成分的分布。
如何获得清晰的扫描电镜(SEM)图像
关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。
检查仪器的参数设置，适当提高分辨率，以获得更清晰的图像。 样品制备问题：样品制备质量不好也可能导致SEM图像出现马赛克。确保样品表面光洁，避免灰尘脏物或不均匀涂层的干扰。
图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
扫描电镜高倍调不清楚是因为扫描电镜灯丝有没有调整好，放大倍数是否超出电镜有效放大倍数。扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
为了消除放电现象，我们通常的解决问题的方法是降低扫描电镜样品室的真空度，这样可以将样品表面的引入正电荷的分子，它可以与放电电子相互中和，从而消除放电现象，但是此种方法并不是获取高分辨率的图像的有限办法。
