如何判断两个晶面平行
条件：在立方晶体中同指数的晶向和晶面是相互垂直的，即〔100〕晶向与（100）晶面垂直。
双晶面的方向用平行某晶面或垂直某晶带轴的符号形式来表示。例如锡石的膝状双晶，双晶面∥（101）﹔正长石的卡尔斯巴律双晶，双晶面⊥（001）。
一）双晶面 双晶面是双晶上的一个假想平面，通过此平面的反映，可使双晶相邻的两个个体重合或平行。双晶面一般用晶面符号来表示，例如图5-2B的石膏双晶的双晶面为（100）。
平行连晶在外形上表现为各个单体间的所有对应晶面全都彼此平行，且单体间总是存在有凹入角（图 9-1）。
对，同一晶面组的晶面是平行的，同一晶面族的不一定平行，但同一晶面族中晶面指数互为相反数的晶面是平行的。
双晶是两个或两个以上同种晶体按一定对称规律形成的规则连生，往往有显著的凹入角（少数例外），但要注意的是平行连生也有凹入角，应予以区别。
怎么判断晶面属于晶带
数个晶面相交的棱是平行的，这数个晶面就合成一个晶带。换句话说，彼此相交成平行晶棱的一组晶面组合，称为晶带。
晶带 所有平行或相交于同一直线的这些晶面构成一个晶轴，此直线称为晶带轴。属此晶带的晶面称为晶带面。
根据晶带的定义可知，一个晶带至少必须包含两个互不平行的晶面；而由两个不相平行的晶面则可决定一个晶带。因此，由（h1k1l1）和（h2k2l2）两个晶面所决定的晶带，其晶带符号亦可表示为［h1k1l1，h2k2l2］。
2020.02.03小刘科研笔记之材料的表征方法
常用材料表征手段 微观形貌 形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌，材料的颗粒度，及颗粒度的分布以及形貌微区的成分和物相结构等方面。形貌分析方法主要有：扫描电子显微镜 SEM透射电子显微镜 TEM原子力显微镜等等。
通俗地说，你面前有一块砖，根据对这块砖的表征，任何没有见过这块砖的人，能够从众多不同材料中区分出这块砖。
主要包括纳米粒子的XRD表征纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析纳米粒子的扫描透射电子显微术纳米团簇的扫描探针显微术纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。
为X 射线波长，当使用铜靶时，又54187 A； L为粒度大小或一致衍射晶畴大小；e为 布拉格衍射角。用衍射峰的半高宽FWHM和位置（2a）可以计算纳米粒子的粒径。热分析表征。
设计一套表征方法获得未知材料的物理化学性质如下：对于未知材料，通常需要设计一套综合的表征方法来获取其物理化学性质。以下是可能的表征方法：物理观察：对未知材料进行物理观察，包括其颜色形状尺寸透明度等。
红外光谱法，紫外光谱法，热分析法，扫描电镜，透射电镜。原子力显微镜，扫描隧道显微镜，电子显微探针分析，俄歇电子能谱法，气相色谱，液相色谱，质谱或气质联用，液质联用。核磁共振。
