纳米材料粒度测试方法大全
测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。
筛分法：筛分法是一种最传统的粒度测试方法，也是过去最常用的方法，它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。
XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
透射电镜法：透射电镜是一种直观可靠的绝对尺度测定方法，对于纳米颗粒，它可以观察其大小形状，还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度，显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计，分门别类给出粒度分布。
Ti时刻测得一系列的光强值I1I2I3……Ii，这些光强值对应的颗粒粒径为D1D2D3……Di，将这些光强值和粒径值代入式（5），再通过计算机处理就可以得到粒度分布了。
靶材晶粒测试有多种,常用的基本方式是什么
一般情况下，形成的晶粒晶轴在各个方向上分布的机会是均等的，在做XRD时，不同的晶面间距形成不同的衍射峰，因为晶面上原子分布不同原子衍射能力存在差异等原因，各个衍射峰强度存在差异。
软件的实现 根据“成电之芯”输入激励和输出响应的数据对比要求，编写了可综合的verilog代码。代码的设计完全按照“成电之芯”的时序要求实现。
金属合金靶材通常具有晶粒较大密度较高结构紧密等特点，适用于制备多种金属薄膜。陶瓷靶材则具有晶粒细小密度相对较低化学稳定性好等特点，适用于制备一些氧化物氮化物等复杂材料的薄膜。
扫描电镜图片如何分析
1需要更多的信息才能更好的分析这张图片。扫面电镜的主要作用是分析材料表面形貌。你的图片：放大倍数2000倍，工作电压15KV，工作距离9mm。
2工作电压20KV，工作距离25mm，放大倍数100倍。图像黑色区域的中心基本都有一个颗粒，应该是杂质颗粒或者是第二项颗粒在基底表面。
3直接用SEM观察样品沿纤维方向的拉伸断裂横截断面。【点击了解产品详情】在这种的电子显微镜中，电子束以光栅模式逐行扫描样品。电子由腔室顶端的电子源（俗称灯丝）产生。电子束发射是因为热能克服了材料的功函数。
4将粉体用树脂镶嵌，磨制一个平面，做导电镀膜处理，再背散射电子像模式下进行EDS分析。
5用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。
6原子力显微镜表征石墨烯的什么性质 当然是原子力显微镜AFM，看高度图石墨烯单层不到1 nm。应该说AFM是表征石墨烯材料最方便的手段了。当然，AFM表征的时候应注意区分灰尘盐类和石墨烯分子。
【请教】从SEM图片中计算颗粒体积分数该用什么软件
举例来说，如果我们有一张SEM扫描电镜图片，我们需要对其进行预处理，如去噪声增强对比度等。然后，我们可以利用图像分析软件，测量图片中的颗粒大小，计算其分布情况等。
为表征WC-Co硬质合金微观结构的随机性，使用Matlab和VC++汇合编程对材料显微组织的扫描电镜（SEM）图片进行了图像处理，提取出微观结构的轮廓，计算了微观结构的拓扑参数并统计其分布规律。
以后就可以很方便的用了3什么软件可以模拟菊池图JEMS可以，画电子衍射花样的时候选上菊池线就行了。3透射电镜的金属样品怎么做包括金属切片砂纸打磨冲圆片凹坑研磨双喷电解和离子减薄FIB制样（块体样品的制样神器）。
