SEM如何利用二次电子成像
1SEM内在试样的斜上方放置有探测器来接受这些电子。接受二次电子的装置简称为检测器，它是由聚焦极加速极闪烁体光导管和光电倍增管组成。在闪烁体前面装一筒装电极，称为聚焦极，又称收集极。
2二次电子成像是用被入射电子轰击出的样品外层电子成像，能量低，只能表征样品表面，分辨率比较高。背散射电子是入射电子被样品散射然后成像，能量很高，接近入射电子。可以反应样品内部比较深的信息，分辨率相对较低。
3SEM的工作原理与使用方法SEM的工作原理扫描电镜（SEM）是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。
4扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。
5你说的是SEM电镜吧，这主要是它的成像原理导致的其可以反映样品表面或者断面的形貌信息。
二次电子的原理是什么
1二次电子成像是用被入射电子轰击出的样品外层电子成像，能量低，只能表征样品表面，分辨率比较高。背散射电子是入射电子被样品散射然后成像，能量很高，接近入射电子。可以反应样品内部比较深的信息，分辨率相对较低。
2这是一种真空中的自由电子。由于原子核和外层价电子的结合力能很小，因此外层的电子比较容易和原子脱离，使原子电离。
3二次电子 Secondary electron 入射电子与样品核外电子碰撞，使样品表面的核外电子被激发出来的电子，是作为SEM的成像信号，代表样品表面的结构特点。
如何利用二次电子信号拍摄扫描电镜照片
扫描电镜是一种通过电子枪射出电子束聚焦后在样品表面做光栅状扫描的方法，其应用是二次电子成像。扫描电镜原理是将样品表面投射非常细小的电子束，并通过收集电子反弹或其它来源的二次电子信号来确定样品表面形态和性质。
当电子束与样品表面平行时（如图（a）θ=0°），激发的二次电子最少。一旦样品表面微倾斜（如45°），二次电子的数量显著增加，因为电子更易逸出表面，形成明暗对比的形貌衬度（见图中黑色区域）。
为了研究样品上更多部位的特征，必须利用扫描系统移动入射电子到样品上的不同位置。（2）成像 扫描电镜的成像是靠扫描作用实现的。
这些细节的不同部位发射的二次电子数不同，从而产生衬度。二次电子像分辨率高无明显阴影效应场深大立体感强，是扫描电镜的主要成像方式（特别适用于粗糙样品表面的形貌观察），在材料及生命科学等领域有着广泛的应用。
成像原理不同 二次电子像是通过在样品表面扫描时收集被激发出的二次电子来成像的，其成像结果主要依赖于样品表面形貌上的细微变化。
二次电子扫描像为什么可以反映样品表面或者断面的形貌信息,
二次电子像分辨率高，景深大，立体感强，主要用于反映样品表面形貌。它是由于样品表面凸出的尖棱小粒子以及比较陡的斜面处二次电子产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大，从而呈现出表面形貌。
成像原理不同 二次电子像是通过在样品表面扫描时收集被激发出的二次电子来成像的，其成像结果主要依赖于样品表面形貌上的细微变化。
二次电子像主要是反映样品表面10nm左右的形貌特征，像的衬度是形貌衬度，衬度的形成主要取于样品表面相对于入射电子束的倾角。
通过二次电子成像，清晰展现了铁素体与马氏体的交互作用，以及裂纹如何受阻转向或穿过增强相的瞬间。总之，扫描电镜表面形貌衬度原理的深入理解，为我们揭示了材料微观世界的一扇窗户，驱动着科学研究与工业应用的前沿探索。
扫描电镜的分辨率一般就是二次电子分辨率。 二次电子产额随原子序数的变化不大，它主要取决与表面形貌。入射电子与样品核外电子碰撞，使样品表面的核外电子被激发出来的电子，是作为SEM的成像信号，代表样品表面的结构特点。
