怎么统计sem膜孔不规则孔径分布
1dvdD如果材料的孔比较大，十几个nm以上，用dvdD做孔径分布。用dvdlogD容易出现峰。孔径分布图为累积孔容对孔径作图后，再对 D 求导得到。dVdD的孔 径分布图里（纵坐标 DVdw）。
2水滴渗透法：利用水滴在膜上扩散过程中受到孔径大小和表面张力的影响，从而测得膜孔径信息。泡压法：这种方法是通过测量气体或液体通过膜孔的压力变化来推算孔径大小。
3目前大致采用以下方法：直接测量法 直接法测膜孔径 （1）电子显微镜 扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）电子显微镜表征膜的孔径孔径分布及膜的形态结构。制样至关重要。湿膜样品要经过脱水蒸镀复型等处理。
4孔径分布曲线分析可以用断面直接观测法，得出断面尽量平整的多孔材料试样，然后通过显微镜或投影仪读出断面上规定长度内的孔隙个数，由此计算平均弦长，再将平均弦长换算成平均孔隙尺寸，由此可求出多孔材料的孔径分布。
5SEM就算放大30W倍也不行个。在此，给大家介绍一个相较可行的方法： 膜的孔径测量一般用汞压法可以测量。要说明白，膜的表面孔径是一个平均孔径，它和膜的孔隙率都是表征膜的重要数据。
6现在分析孔径的分布，一般是分开来分析，也就是，各个阶段的孔的分析模型不一样，微孔一般是HK，SF，T-plot.介孔的一般是BJH。大孔的一般是通过压汞法来测试。如果要想分析全孔的孔径分布。可以利用NLDFT模型来分析。
同一材料在扫描电镜上得到的孔径怎么与氮吸附的结果不一致哪位大虾能...
1气体吸附法 气体吸附法，如氮气吸附分析仪，利用气体在固体表面的吸附特性，通过测定吸附剂的平衡吸附量来推算孔径。特别是氮气，对于微介孔的分析表现出色，但对小于1纳米的微孔分析效果有限。
2透射电子显微镜电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。透射电子显微镜在材料科学生物学上应用较多。
3钢的碳氮共渗：碳氮共渗是向钢的表层同时渗入碳和氮的过程，习惯上碳氮共渗又称作氰化。目前以中温气体碳氮共渗和低温气体碳氮共渗（即气体软氮化）应用较是广。
扫描电镜标尺怎么看
打开SEM图像。在图像的右下角，会看到一个水平线，这是标尺的一部分。观察该水平线上刻度的数字，这些数字表示图像中每一点的尺寸，例如，如果刻度显示“100”，则表示该点在图像中的尺寸为100像素或100微米。
用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。
拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数【点击了解产品详情】扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。例如：尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm10um就是1000倍。
超滤膜孔径如何测定
常用超滤膜孔径的测定是通过检测与孔存在相关的物理效应来实现的，可分为几何孔径测定和物理孔径测定两种方法。具体的有效测定方法尚在探讨之中。
泡点法是一种通过测量将空气透过充满液体的滤膜所需的压力来测定滤膜的孔径的方法。泡点法只能测量滤膜的孔径，而无法测量超滤膜的孔径。
泡点测试是表征膜最大孔径的一种简单方法和常用方法，这种方法主要是将空气吹过充满液体的膜所需要的压力。假设膜对液体介质是完全浸润的（即全部气孔均充满液体介质），液体使膜润湿，此时膜所有的孔都充满了液体。
标准范围在0.001至0.02微米之间，换算成纳米就是1至20纳米，这个数值指的是直径。然而，实际应用中，不同厂家型号和材质的超滤膜，其孔径细节各异，因此过滤性能也有所差异。
扫描电镜SEMEDX测试的井深是多少
应该是景深吧``焦深计算公式 L= ±[（rM）-d]2α 其中：L： 焦深 r： 显像管最小分辨距离 M：放大倍数 d：入射电子束直径 2α：物镜孔径角。从上面的式子可以看出影响焦深的因素，其中隐含了工作距离w。
EDX是测得元素的特征X射线进行分析，微米级别。XPS是纳米级别。
手持金属探测器一般是1—40CM左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）探盘式地下金属探测器一般是1—15M左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）远程地下金属探测器是1—50M深。
放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。场深：在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。
sem测试主要测形貌能谱镀金。形貌：仪器放大倍数范围是100倍-20W倍，常规样品可以拍摄到8-10W倍，导电性不好或磁性样品大于8W倍可能会不清晰。
电镜中的X射线能谱（EDX）作为精密附件，能够在纳米级解析样品的结构与成分，特别是在SEM（扫描电镜）和TEM（透射电镜）的配合下，深入剖析B至U元素的特性。
【知识】扫描电镜(SEM)知识大全
扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
电子光学系统：微观世界的造像大师SEM的电子光学系统负责产生极其细窄的电子束，通过精确扫描样品表面，捕捉每一个微小细节。
