如何根据sem图分析粒径

纳米材料粒度测试方法大全

测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。

筛分法：筛分法是一种最传统的粒度测试方法，也是过去最常用的方法，它是使颗粒通过不同尺寸的筛孔来测试粒度的。

XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。