测试薄膜截面SEM如何制样
1目前大致采用以下方法：直接测量法 直接法测膜孔径 （1）电子显微镜 扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）电子显微镜表征膜的孔径孔径分布及膜的形态结构。制样至关重要。湿膜样品要经过脱水蒸镀复型等处理。
2离子抛光 结束后可直接在真空中进行镀膜处理，无需破真空再进行镀膜，可防止样品氧化，一站式解决高端电镜制样需求；无油真空系统 ：无油机械泵+分子泵系统。
3利用FIB-SEM可以准确的在MoS2场效应管的沟道位置，垂直于Ag纳米线方向，提出一个薄片，并对其进行减薄，制备成截面透射样。在TEM下即可得到MoS2的层数为14层（图4c）， Ag纳米线和MoS2之间的距离为30nm（图4b）。
4SEM可以看断面。300纳米够厚了。把你的样品弄断，然后放在斜面的载物台上，扫描电镜那里都可以做。SEM里带能谱的话可以测到表面的化学元素。SEM你做表面形貌是神马也看不出来的。
SEM工作原理与使用方法
1观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
2放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
3扫描电子显微镜的工作原理基于电子成像，与光学显微镜的光线成像原理截然不同。不同于透射电子显微镜（TEMs）通过穿透极薄样本，SEM是通过扫描电子束在样品表面反射或碰撞，产生出超高的分辨率图像。
聚合物想测SEM,如何制作样品
既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金引导电胶。
你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计，利用背景的亮度差别，其实效果不一定很好的。
如果能液氮脆断最好！冷冻切片机也行，这个机子太贵，一般SEM实验室不配，去搞生物材料的TEM实验室应该有。
聚合物的一般制样方法有以下四种[1]：（1）浇铸薄膜法，是在一定条件下将聚合物溶解于适当的溶剂中，然后将样品溶液滴在适当的载体上，挥发掉溶剂，将膜取下，制得样品膜。
具体看看你的样品有什么特征了，要能很好的分散在溶剂中，如果太黏，制样的效果不好；还有就是如果忖度太低，需要染色，这样效果要好点。
求助有机分子的SEM怎么测
SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成 FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。
既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金引导电胶。
高分子材料测sem可以不用脆断 XRDSEM和AFM测试没有固定的先后顺序。1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分材料内部原子或分子的结构。
扫描电镜sem的主要原理是什么测试过程需要重点注意哪些操作
分析SEM扫描电镜图片主要涉及到图像处理和图像分析两个步骤，通过专业的软件工具和特定的分析方法，可以对图片的形貌成分晶体结构等方面进行深入解读。
扫描电镜 （SEM） 主要用于直接观察固体表面的形貌。先利用电子透镜将一个电子束斑缩小到几十埃，用偏转系统使电子束在样品面上作光栅扫描。
扫描电子显微镜 编辑本义项sem求助编辑百科名片 SEMSEM是scanning electron microscope的缩写，中文即扫描电子显微镜，扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。
