怎样才能拍出好看的氧化石墨烯的SEM照片
1采用硫酸和高锰酸钾，通过化学插层氧化-破碎方法制备了氧化石墨烯（GO），通过扫描电镜（SEM）激光粒度分析红外光谱（FT-IR）紫外-可见光谱（UV-vis）和原子力显微镜（AFM）等测试手段对所制备的氧化石墨烯进行了分析和表征。
2当然光学显微镜扫描电镜SEM也可以用来表征石墨烯。还有高分辨率透射电镜HRTEM可以看到石墨烯的蜂窝状原子图像，可以看到氧化石墨烯还原后的缺陷。
3为了在SEM图像中更好地识别氧化石墨烯，可以尝试以下方法：使用透射电子显微镜（TEM）或原子力显微镜（AFM）等其他显微技术，这些技术能提供更高的分辨率，更适合观察单层或少层材料。优化样品制备过程，确保GO的良好分散和暴露。
4定好构图：找好拍摄场景，选好角度和光线，尽可能避免背景杂乱或干扰，保持主体突出。 控制光线：选择合适的光线强度，不要过于强烈或柔和，投射角度要合适。
如何获得清晰的扫描电镜(SEM)图像
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。
在观察形貌像的同时，还可对样品的微区进行成分分析。扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。
图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
搞定SEMTEM样品制备方法,拍出高级电镜图!
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
超薄切片法这是最常用的方法，因为可以观察细胞或其它样品内部的细微结构。通常是要按照一定程序对样品进行固定，脱水，然后包埋在树脂中作为支持物，用超薄切片机切成极薄的切片。
建议由老师制备或在老师指导下制备。）4．等15 min以上，以便乙醇尽量挥发完毕；否则将样品装上样品台插入电镜，将影响电镜的真空。块状样品制备 1．电解减薄方法 用于金属和合金试样的制备。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。
同样的样品，不同的实验室做出来效果差别很大。 有对样品进行这样处理的，用乙醇或丙酮稀释，超声分散后，取液滴滴在铜板上，干燥后喷金，做样。
图13-2-1 SEM的基本结构示意图 在扫描电镜中，电子枪发射出来的电子束，经3个电磁透镜聚焦，成直径为20 μm～25 的电子束。置于末级透镜上部的扫描线圈能使电子束在试样表面上做光栅状扫描。
