扫描电镜和透射电镜的EDS对分析样品的成分有什么不同
1能谱仪（EDS，Energy Dispersive Spectrometer）是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。其原理是：当X射线光子进入检测器后，在Si（Li）晶体内激发出一定数目的电子空穴对。
2电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。观察得到的图像不同。
3工作原理不同对样品的要求不同操作不同放大倍数不同用途不同等。透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。
4结构差异：主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。
5透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）的结构有所不同。透射电镜使用一个细长的样品杆，样品放置在电磁场中，电子束穿过样品。扫描电镜则有一个固定的样品台，电子束扫描样品表面。 两者的工作原理也不同。
6不同点：利用的电子种类不同；观察的图像不同；样品制备要求不同；分辨率及其条件不同；成像原理不同。从样品内部结构获得信息，透射电镜是最佳的选择；从样品表面信息，扫描电镜是首选。
SEM和TEM的图不一致,应该是哪个为准呢
1TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜，场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用 xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。
2SEM是分析表面形貌结构的，给出的是立体图，对观察棒状，球状，等等材料材料有很好的视觉效果。EDS是分析成分的，一般是配套于TEM仪器上。它分析的是样品表面面某个小的部分的元素组成，不能代表样品整体组成。
3一般都是需要分散的，否则容易团聚在一起，看不清楚形貌。当然如果你的样品与乙醇有反应就算了。如果仅仅是观测形貌，SEM就可以，只要粒径不是小到需要高分辨的程度。如果需要对晶体结构有所了解，最好还是做TEM。
4可能有几个原因：1，大家的制备方法不一样，导致形貌的整齐性不一样。2，实验的参数条件不一样导致形貌不同。
5SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
1工作原理不同对样品的要求不同操作不同放大倍数不同用途不同等。透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。
2TEM样品制备 透射电镜对样品的要求更为严格，样品需透明，厚度控制在100nm以下（高分辨要求更少于10nm）。样品需牢固导电且无污染。具体步骤包括：选择合适的载网和支持膜，如铜网无孔碳支持膜纯碳支持膜等。
3与扫描电子显微镜（SEM）相比，TEM要求样品厚度在10-100纳米之间，这使得它在研究原子级结构时独树一帜。
4制备好的TEM样品，宛如一个微小的艺术品，它的关键在于样品的尺寸与厚度。以中材新材料所使用的FEI Talos F200X为例，样品制备要求样品直径通常为3毫米，看似普通，实则内藏乾坤。
5SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为2040μm或者更少的薄区要求）。
扫描电镜与透射电镜的区别
1扫描电镜和透射电镜的区别在于。结构差异：主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。
2电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。观察得到的图像不同。
3透射电镜和扫描电镜的区别：结构不同工作原理不同对样品的要求不同操作不同放大倍数不同用途不同等。透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。
4方式不同：扫描电镜和电视扫描原理相同的成像方式，透射电镜和光学显微镜或者照相机成像原理相同的成像方式。实现不同：扫描电镜利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。
TEM和SEM有什么区别
1tem和sem区别如下：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。
2SEMTEMXRDAESSTMAFM的区别主要是名称不同工作原理不同作用不同名称不同 SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。
3sem和tem的区别如下：结构差异 二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。
4SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
5TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜，场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用 xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。
6最主要的区别是：SEM是通过反射的方式采集信号 TEM是通过透射的方式采集信号 样品属性大概必须都是固体，干燥无油尽量导电。TEM获得材料某个剖面的组织形态，sem获得的是材料表面或者是断面的组织形态。
测扫描电镜需要制成悬浊液吗,我想观察样品的形貌,测SEM还是TEM好
1透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。
2SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
3TEM是透射电镜，主要是观察材料内层结构，而SEM是场发射扫描电镜，用于材料表层形貌观察。两种不同的表征方法测出的图形自然不同，一般电池正极材料两种图形都可以用。
4样品属性大概必须都是固体，干燥无油尽量导电。TEM获得材料某个剖面的组织形态，sem获得的是材料表面或者是断面的组织形态。
5．扫描电子显微镜（SEM）是介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法，可以直接利用样品表面材料的材料性质进行微观成像。扫描电子显微镜具有高倍放大功能，可连续调节20000～200000倍。
