SEM扫描电镜图片分析实例
直接用SEM观察样品沿纤维方向的拉伸断裂横截断面。【点击了解产品详情】在这种的电子显微镜中，电子束以光栅模式逐行扫描样品。电子由腔室顶端的电子源（俗称灯丝）产生。电子束发射是因为热能克服了材料的功函数。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。
举例来说，如果我们有一张SEM扫描电镜图片，我们需要对其进行预处理，如去噪声增强对比度等。然后，我们可以利用图像分析软件，测量图片中的颗粒大小，计算其分布情况等。
扫描电子显微镜观察范围
电子显微镜可以观察几个纳米至几十微米范围内的物体，需要被测物体导电性良好。根据不同的电子显微镜，被观测的物体不同。
扫描电镜的图像分析主要包括观察样品表面的微观形貌和元素分布。亮区通常代表高处，暗区代表低处。对于非常薄的薄膜，背散射电子可能会产生误导性的图像，而电子积聚也可能在不导电样品上造成假象。
若扫描电镜采用30cm（12英寸）的显像管，放大倍数15倍时，其视场范围可达20mm，大视场低倍数观察样品的形貌对有些领域是很必要的，如刑事侦察和考古。从高到低倍的连续观察 放大倍数的可变范围很宽，且不用经常对焦。
扫描电子显微镜
分析SEM扫描电镜图片主要涉及到图像处理和图像分析两个步骤，通过专业的软件工具和特定的分析方法，可以对图片的形貌成分晶体结构等方面进行深入解读。
扫描电子显微镜不像投射电子显微镜和普通显微镜那样靠成像系统的逐级放大实现显微功能，而是靠缩小到束斑提供足够高的分辨率。扫描电子显微镜有如下特点。
把所有这些不同类型的电子收集起来，并使它们成像，便可以构成不同类型的电子显微镜。其中，把样品表面反射回来的电子收集起来并成像，这种电子显微镜叫做扫描电子显微镜。
两者的扫描速度完全不同，行扫描的速度比帧扫描的速度快，对于1000条线的扫描图象来说，速度比为1000。扫描电子显微镜是一种大型分析仪器，它广泛应用于观察各种固态物质的表面超微结构的形态和组成。
当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子俄歇电子特征x射线和连续谱X射线背散射电子透射电子，以及在可见紫外红外光区域产生的电磁辐射。
扫描电子显微镜是一种大型分析仪器， 它广泛应用于观察各种固态物质的表面超微结构的形态和组成。 所谓扫描是指在图象上从左到右从上到下依次对图象象元扫掠的工作过程。
扫描电镜
电子光学系统包括电子枪电磁透镜消像散器和扫描线圈等。扫描电镜的定义 扫描电镜是一种利用电子束扫描样品表面，通过检测样品发射的次级电子反射电子等信号获取表面形貌和组成信息的电子显微镜。
扫描电镜主要用于观察样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜简介：扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。
SEM扫描电镜的电子束辐射相对较小，其最大放射强度仅相当于太阳辐射的0.3%左右。此外，SEM工作时会将样品置于真空环境中，因此电子束在与气体分子作用时会产生少量的辐射。
透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）的结构有所不同。透射电镜使用一个细长的样品杆，样品放置在电磁场中，电子束穿过样品。扫描电镜则有一个固定的样品台，电子束扫描样品表面。 两者的工作原理也不同。
扫描电子显微镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
