透射电镜的图像和扫描电镜的图像怎样看
1样品制备很简单。目前，所有的扫描电镜设备都配备了x射线能谱仪，可以同时观察微观组织和形貌，分析微区成分。因此，它是当今非常有用的科学研究工具。2．透射电子显微镜在材料科学和生物学中有着广泛的应用。
2透射看内部，扫描看表面。透射相当于拍x光片，扫描相当于拍照片。当然，你可以冷冻蚀刻，把内部的东西暴露出来，然后再扫描看这些结构。
3扫描电镜，标本经固定脱水干燥喷镀金属后即可观察。（4）成像原理：透射电镜，电子落到结构上被散射，落到荧光屏上的电子成像；扫描电镜，利用二次电子成像。（5）分辨率：透射电镜，0.2nm；扫描电镜，5～7nm。
4电镜有两种，透射电镜和扫描电镜，能看到物体的细微结构，但制作玻片标本需要特殊处理，要镀一层金属膜才能观察，但不需要染色。
5扫描电镜，是观察样品表面的结构特征；透射电镜，是观察样品的内部精细结构。
6扫描电镜成像过程与电视成像过程有很多相似之处，而与透射电镜的成像原理完全不同。透射电镜是利用成像电磁透镜一次成像，而扫描电镜的成像则不需要成象透镜，其图象是按一定时间空间顺序逐点形成并在镜体外显像管上显示。
tem和sem区别
1TEM是透射电镜，主要是观察材料内层结构，而SEM是场发射扫描电镜，用于材料表层形貌观察。两种不同的表征方法测出的图形自然不同，一般电池正极材料两种图形都可以用。
2xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。
3SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息 TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成 FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。
4它可以实现纳米级的三维显微观察和力学测量。扫描电子显微镜（SEM）：SEM利用电子束与样品表面相互作用，通过测量电子束与样品反射散射和辐射的信息来获得样品表面形貌和化学成分的信息。
5电子显微镜：它利用电子流（束）取代了光线成像，分为透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。电子显微镜比光学显微镜有更高的分辨率和更大的深度，可以观察到更加微观的物质。其主要部分包括电子枪透镜探测器等。
谁能给我讲解一下SEM和TEM的区别,详细一点
1tem和sem区别如下：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。
2SEMTEMXRDAESSTMAFM的区别主要是名称不同工作原理不同作用不同名称不同 SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。
3结构不同工作原理不同对样品的要求不同操作不同放大倍数不同用途不同等。透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。
