sem右下角的50um和100um区别是啥
图像的尺寸。在SEM（扫描电子显微镜）图像中，100um通常表示图像的尺寸，um是微米的缩写，是长度单位，100um意味着图像的尺寸是100微米。
是bar（标尺）的意思。表示那么长是等于50微米。因为不同放大倍数的显微镜拍出来的图不一样，但有了标尺你就可以知道尺度信息。
打开SEM图像。在图像的右下角，会看到一个水平线，这是标尺的一部分。观察该水平线上刻度的数字，这些数字表示图像中每一点的尺寸，例如，如果刻度显示“100”，则表示该点在图像中的尺寸为100像素或100微米。
um。um是长度单位，因为都是以um为单位，100比50大，所以100um大。um是微米的意思，mm是毫米的意思，一毫米等于一千微米。
在SEM中，像素大小取决于扫描探针的直径和扫描分辨率，而放大倍数则是由物理尺寸和像素尺寸之间的比例决定的。假设扫描电镜的像素大小为1nm，并且我们想知道标尺50μm是多少倍。
谢乐公式计算XRD样品的晶粒尺寸的实例1
1谢乐公式计算XRD样品的晶粒尺寸的实例我们常见的谢乐（Scherrer）公式表达式为D=Kλ（βcosθ）（K为常数；λ为X射线波长；β为为衍射峰半高宽；θ为衍射角）。
2在实际操作中，我们倾向于选择低角度的衍射线，尤其当晶粒尺寸在1-100nm范围内，谢乐公式最为精确。特别地，对于非球形粒子（如立方体），需对公式稍作调整。
3谢乐公式计算晶粒尺寸范围在10-1000纳米之间。谢乐公式的表达式为：D=Kλβcosθ。D是晶粒尺寸，K是一个常数（通常为0.89），λ是X射线的波长，β是衍射峰的半高宽（以弧度为单位），θ是衍射角。
4Scherrer公式就是谢乐公式，Scherrer是他本国名字，谢乐是中文译名。
5谢乐公式：（K为Scherrer常数D为晶粒垂直于晶面方向的平均厚度B为实测样品衍射峰半高宽度θ为衍射角γ为X射线波长，为0.154056 nm）。K可以查得到，直接将上述参数代入公式，即可以计算出晶粒的厚度。
6在晶粒尺寸小于100nm时，应力引起的宽化与晶粒尺度引起的宽化相比，可以忽略。此时， Scherrer 公式适用。但晶粒尺寸大到一定程度时，应力引起的宽化比较显著，此时必须考虑引力引起的宽化，Scherrer 公式不再适用。
通过SEM电镜照片怎样确定晶粒平均尺寸
图片里有标尺的，和那个比比不就知道了，放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。
举例来说，如果我们有一张SEM扫描电镜图片，我们需要对其进行预处理，如去噪声增强对比度等。然后，我们可以利用图像分析软件，测量图片中的颗粒大小，计算其分布情况等。
用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
