SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少
1通常,透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于0.2μm光学显微镜下无法看清的结构,又称“亚显微结构”。
2原子力AFM分辨率很高,通常看物质表面形貌,纵向达到10nm级是无压力的。透射TEM一般标尺可以到20nm,不过具体看材料能做到多少,如果是高分辨HRTEM,那是用来看晶格的,标尺甚至可以达到2nm。
3透射电镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~几十万倍。由于电子易散射或被物体吸收,故穿透力低,必须制备更薄的超薄切片(通常为50~100nm)。其制备过程与石蜡切片相似,但要求极严格。
SEM运营如何优化着陆页面
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电子探针X射线微区分析的电子探针工作原理
1电子探针微区分析仪(Electron Probe Microanalyzer,缩写为EPMA),简称电子探针。它与波长色散型X射线荧光光谱仪的区别在于:①激发源不同电子探针是用电子束作为X射线的激发源,而X射线荧光光谱则是用X射线激发产生X射线。
2电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针,激发试样中某一微小区域,使其发出特征X射线,测定该X射线的波长和强度,即可对该微区的元素作定性或定量分析。
3电子探针(EPMA)又称X射线显微分析仪(见图2-2-7)。它利用集束后的高能电子束轰击宝石样品表面,并在一个微米级的有限深度和侧向扩展的微区体积内激发,产生特征X射线二次电子背散射电子阴极荧光等。
4内容概述 电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线,对特征性X射线进行分光和强度测定,得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。
5电子探针有三种基本工作方式:点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析,以及对其中所含元素进行定量分析;线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化;面分析用于观察元素在选定微区内浓度分布。
6电子探针又称微区X射线光谱分析仪X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面,使被轰击的元素激发出特征X射线,按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。
2020.02.03小刘科研笔记之材料的表征方法
1常用材料表征手段 微观形貌 形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度的分布以及形貌微区的成分和物相结构等方面。形貌分析方法主要有:扫描电子显微镜 SEM透射电子显微镜 TEM原子力显微镜等等。
2通俗地说,你面前有一块砖,根据对这块砖的表征,任何没有见过这块砖的人,能够从众多不同材料中区分出这块砖。
3主要包括纳米粒子的XRD表征纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析纳米粒子的扫描透射电子显微术纳米团簇的扫描探针显微术纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。
高倍透射显微镜如何解释暴露的晶面
1HRTEM是透射电镜的一种,将晶面间距通过明暗条纹形象的表示出来。通过测定明暗条纹的间距,然后与晶体的标准晶面间距d对比,确定属于哪个晶面。这样很方便的标定出晶面取向,或者材料的生长方向。
2透射电子显微镜 透射电子显微镜(英文:Transmission electron microscopy,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。
3透射电镜,即透射电子显微镜是电子显微镜的一种。电子显微镜是一种高精密度的电子光学仪器,它具有较高分辨本领和放大倍数,是观察和研究物质微观结构的重要工具。