对比不同温度下样品晶粒尺寸
在钎焊温度为700℃750℃和800℃下晶粒尺寸有明显不同，700℃晶粒大小约为20μm，760℃晶粒大小约为50um，800℃晶粒大小超过150um。
快速冷却条件下，结晶度低，球晶尺寸小。慢速冷却条件下，结晶度高，球晶尺寸大。较高温度下结晶，球晶尺寸大，结晶度高。较低温度下结晶，球晶尺寸小，结晶度低。
低温玻璃粉烧结的温度对晶粒大小的影响很大。根据查询相关公开资料得知，研究了玻璃粉的熔融，力学性能，介电性能及其含量对MLCC瓷料烧结的影响，结果表明低温玻璃粉烧结的温度高对晶粒大小就越大。
金属型浇注晶粒小于砂型浇注，因为金属型的散热速度快。浇注温度高晶粒大于浇注温度低，因为散热慢。薄壁件晶粒小于厚壁件，因为散热速度快。厚大件的表面晶粒比心部小，因为散热速度快。
有没有人可以教教怎么用ImageJ测粒径大小分布
1直接用激光粒度分析就可以得到你要的粒度分布曲线。
2利用ImageJ打开图片文件。 点击ImageJ菜单栏中File--Open，找到想要打开的TIF或者JPG文件，将其打开 。 在工具栏中找到画线工具，然后采用它画一条直线，与标尺长度重合 。
3数据采集 用蓝色线在每个颗粒上绘制直径，如有误，只需右键点击数字并删除。完成100个颗粒的测量后，保存数据至报告功能，查看并导出关键信息。
怎么统计sem膜孔不规则孔径分布
1dvdD如果材料的孔比较大，十几个nm以上，用dvdD做孔径分布。用dvdlogD容易出现峰。孔径分布图为累积孔容对孔径作图后，再对 D 求导得到。dVdD的孔 径分布图里（纵坐标 DVdw）。
2水滴渗透法：利用水滴在膜上扩散过程中受到孔径大小和表面张力的影响，从而测得膜孔径信息。泡压法：这种方法是通过测量气体或液体通过膜孔的压力变化来推算孔径大小。
3目前大致采用以下方法：直接测量法 直接法测膜孔径 （1）电子显微镜 扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）电子显微镜表征膜的孔径孔径分布及膜的形态结构。制样至关重要。湿膜样品要经过脱水蒸镀复型等处理。
纳米材料的表征技术有什么
形貌，电子显微镜（TEM），普通的是电子枪发射光电子，还有场发射的，分辨率和适应性更好。结构，一般是需要光电电子显微镜，扫描电子显微镜不行。晶形，单晶衍射仪，XRD，判断纳米粒子的晶形及结晶度。
材料的表征方法有纳米粒子的XRD表征纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析纳米粒子的扫描透射电子显微术纳米团簇的扫描探针显微术纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。
表征手段， 形貌形态：扫描电子显微镜，透射电子显微镜，扫描探针显微镜。化学组成 ：能谱仪，波谱仪，俄歇电子谱仪，光电子能谱仪。
主要包括纳米粒子的XRD表征纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析纳米粒子的扫描透射电子显微术纳米团簇的扫描探针显微术纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。
