如何利用电涡流传感器测量金属板厚度
简单说，电涡流位移传感器用来测位移的，如果需要测厚度，需要上下各安装一个探头，且正好相对。需要事先用标准厚度量块标定两个探头之间的距离。注意标准量块和被测材料要一致。
公式为d=k√f。其中，d为金属表面的厚度，k为电涡流传感器的常数，f为交变电磁场的频率。电涡流传感器是一种非接触式的测量设备，可用于测量金属表面的厚度。
原理是当板材的厚度变化时，将使传感器探头与金属板间的距离改变，从而引起输出电压的变化。电涡流厚度传感器可用于测量金属材料厚度，特点是测量范围宽反应快和精度高。可分为低频透射式和高频反射式两类。
线圈阻抗的变化完全取决于被测金属的电涡流效应，分别与以上因素有关。如果只改变式中的一个参数，保持其他参数不变，传感器线圈的阻抗Z就只与该参数有关，如果测出传感器线圈阻抗的变化，就可以确定该参数。
扫描电子显微镜有何特点
1成象次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。表面分析欧革电子特征X射线背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。
2它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。
3电子显微镜，原子力显微镜，扫描隧道显微镜.的区别：一．扫描电镜的特点 和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜具有以下特点：（一） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
4二次电子和背散射电子是SEM成像中的两种主要信号。二次电子是能量较低的电子，主要反映样品表面的微观形貌；而背散射电子则与样品表面的元素分布有关，其亮度与原子序数成正比。
5STEM是既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。象SEM一样，STEM用电子束在样品的表面扫描，但又象TEM，通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。
请问纳米粒子及纳米改性乳液在做SEM和TEM时,要如何准备样品
SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。
扫描电镜只能对样品表面进行成像，即使是液相，也只能是液体表面，这个在环境扫描电镜中已经成功试验过，观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程，液滴的表面形貌清晰可见。
固体样品可以直接看SEM，不过粉体一定要非常少，用个镊子撒一点点上去，然后用吹掉多余的部分。
同样的样品，不同的实验室做出来效果差别很大。 有对样品进行这样处理的，用乙醇或丙酮稀释，超声分散后，取液滴滴在铜板上，干燥后喷金，做样。
WSe2纳米片
1在现代纳米科技的舞台上，WSe2纳米片凭借其卓越的性能和独特的结构，正在引领前沿研究的潮流。
2近日，美国 芝加哥大学 Alexander A. High团队在Nature Photonics上发文，报道了在原子薄单层二硒化钨tungsten diselenide（WSe2）纳米光子界面中的电可控手性。二氧化钛波导直接制作在低无序氮化硼封装的WSe2表面上。
3奥地利维也纳科技大学（Vienna University of Technology）的研究人员们首次开发出由二硒化钨（tungsten diselenide；WSe2）制做的二极体，根据实验显示，这种材料可被用于超薄的软性太阳能电池。
4随着 WSe 2层数的增加，其光致发光强度单调下降； 当 WSe 2 层数从单层增加为双层时，其发光强度急剧下降，表明其能带结构已从直接带隙转变为间接带隙。
5后续又有一些其他的二维材料陆续被分离出来，如氮化硼（BN）二硫化钼（MoS2）二硫化钨（WS2）二硒化钼（MoSe2）二硒化钨（WSe2）MXene材料。最近在凝聚态物理领域有着广泛的研究。
SEM扫描电镜图片分析实例
直接用SEM观察样品沿纤维方向的拉伸断裂横截断面。【点击了解产品详情】在这种的电子显微镜中，电子束以光栅模式逐行扫描样品。电子由腔室顶端的电子源（俗称灯丝）产生。电子束发射是因为热能克服了材料的功函数。
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。
举例来说，如果我们有一张SEM扫描电镜图片，我们需要对其进行预处理，如去噪声增强对比度等。然后，我们可以利用图像分析软件，测量图片中的颗粒大小，计算其分布情况等。
在观察形貌像的同时，还可对样品的微区进行成分分析。扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。
2020-02-08-2小刘科研笔记之FIB-SEM双束系统在材料研究中的应用_百度...
聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。
FIB-SEM FIB-SEM是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，在材料的表征分析中具有重要的作用。
聚焦离子束（FIB）与扫描电子显微镜（SEM）耦合成为FIB-SEM双束系统后，通过结合相应的气体沉积装置，纳米操纵仪，各种探测器及可控的样品台等附件成为一个集微区成像加工分析操纵于一体的分析仪器。
对于同一个样品，可在同一真空环境下完成抛光及镀膜。通过利用两个宽束氩离子源对样品表面进行抛光，去除损伤层，从而得到高质量的样品，用于SEM光镜扫描探针显微镜EDSEBSDCLEBIC或其他分析。
