扫描显微镜nova-sem430聚焦后显示距离大于5mm,不能看高分辨怎么调_百度...
可以从扫描电镜图中看到纳米管的结构，我之前做二氧化钛纳米管，用扫描电镜可以直接看到。扫描电镜中的的参数，分别有：放大倍数，长度标尺，工作电压和工作距离。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
显微镜操作的步骤：调节亮度；将临时装片在载物台上适当位置固定好。低倍物镜对准通光孔，使用粗准焦螺旋将镜筒自上而下的调节，眼睛在侧面观察，避免物镜镜头接触到玻片而损坏镜头和压破玻片。
通过高分辨率显微镜，如透射电子显微镜（TEM），扫描电子显微镜（SEM）和离子束刻蚀显微镜（FIB）等，可以实现对原子和分子的直接观察。
由于受电子束相干性透镜的各种像差离焦量以及样品厚度等因素的影响得到的高分辨像一般不能直接解释，必须进行图像模拟，所以图中白点是不是金属原子不好说，要算一下才知道。
SEM扫描电镜图参数代表什么意思
是bar（标尺）的意思。表示那么长是等于50微米。因为不同放大倍数的显微镜拍出来的图不一样，但有了标尺你就可以知道尺度信息。
SEM中镜头倍率是指所观察图像上一厘米的实际长度和电镜上显示的长度之间的比例关系。在不同的观察镜头倍率下，图像的细节和清晰度也会发生变化。在扫描电镜（SEM）图像中，“La 100” 是指电子束聚焦的镜头倍率。
代表SEM中电子束的聚焦点的大小和形状。在SEM中，电子束可以通过调节聚焦系统的参数来改变其直径和形状。
sem工作距离与景深的关系
相同性质。sem工作距离与景深的关系是性质相同。景深即在镜头架设好后，与被测物体间相对距离不做任何调节的情况下，可接受距离。
这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。作用体积：电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。
镜头焦距的长短与景深的关系 一般说来，在同样的光圈下，焦距越长的镜头其景深就越小，相反则越大。
应该是景深吧``焦深计算公式 L= ±[（rM）-d]2α 其中：L： 焦深 r： 显像管最小分辨距离 M：放大倍数 d：入射电子束直径 2α：物镜孔径角。从上面的式子可以看出影响焦深的因素，其中隐含了工作距离w。
请问一下:在调节扫描电镜聚焦时为什么工作距离会变
扫描电镜的工作距离可以通过改变图像调节的曲线因素。工作距离和焦距有关联曲线，是为方便操作，这样样品高度差异才直观。
聚焦时图像移动最可能的原因：1，你样品粘贴的不牢，在抽真空的情况下，样品会产生移动，这种移动在高放大倍数下回越明显。2，你样品如果是多孔材料，在抽真空下也会产生移动。3，样品不是十分干燥也会移动。
作用体积：电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。工作距离：工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。
工作距离 工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。
是一回事。更换不同的物镜，工作距离会变。如果显微镜齐焦的话，连续变倍的范围内无需重新调焦，但很多显微镜都做不到，如果家装辅助物镜，那么焦距将改变，变化量还很大。具体看产品技术参数。
